[发明专利]用于荧光强度归一化的方法

说明书

本发明涉及一种用于强度归一化的荧光显微镜学或内窥镜成像方法、一种非暂时性计算机可读存储介质(101)以及一种用于内窥镜(3)或显微镜设备(5)的控制器(51)。在现有技术中，作为手术显微镜、内窥镜(3)或显微镜(5)的普通观察设备(1)具有以下缺点：检测的强度(97)是归因于荧光团(29)浓度还是归因于光学设置参数(73)是模糊的。如果至少一个光学设置参数(73)被改变，本发明的方法通过自动调节至少一个曝光控制参数(83)克服所述缺点。本发明的非暂时性计算机可读存储介质(101)适于运行用于执行本发明的方法的程序，并且本发明的控制器(51)包括输入部分(67)、输出部分(69)和确定模块(53)。

技术领域

本发明涉及一种方法，尤其是一种用于强度归一化的荧光显微镜学或内窥镜成像方法、一种非暂时性计算机可读存储介质以及一种用于内窥镜或显微镜设备的控制器。

背景技术

在现有技术中，作为手术显微镜、内窥镜或显微镜的普通观察设备具有以下缺点：测量的强度，尤其是在基于荧光的观察期间，即荧光强度，受到观察设备的光学设置参数的影响。通常，已知观察设备的灵敏度展示与光学设置参数的函数关系。灵敏度可以例如与光学设置参数中的至少一个成反比。

因此，如果对荧光强度进行成像，必须非常小心，因为检测的强度是归因于荧光团浓度还是归因于光学设置参数是模糊的。

发明内容

因此，本发明的目的是提供一种方法、一种非暂时性存储介质以及一种用于内窥镜或显微镜设备的控制器，其改善了荧光团浓度的确定。

如果改变至少一个光学设置参数，开头提到的本发明的方法通过自动调节至少一个曝光控制参数来解决上述问题并克服现有技术方法的缺点。

本发明的非暂时性计算机可读存储介质包括用于执行本发明的方法的至少一个实施例的程序，并因此产生与本发明的方法相同的优点。

开头提到的本发明的控制器通过包括用于接收表示光学设置参数的光学设置数据的输入部分解决上述问题。光学设置数据尤其包括放大率设置数据和工作距离设置数据中的至少一个，并且控制器还具有用于输出表示曝光控制参数的曝光控制数据的输出部分。曝光控制数据尤其包括包含检测器增益数据、曝光时间数据和光强度数据的组中的至少一个。此外，控制器具有用于依据至少一个光学设置数据确定至少一个曝光控制数据的确定模块。

本发明的方法、本发明的非暂时性计算机可读存储介质和本发明的控制器允许抵消观察设备的至少一个变化的光学设置参数的影响，其中在没有抵消的情况下，尽管在被检查的样本中具有相同的荧光团浓度，但是仍将测量到改变的强度，尤其是荧光强度。

因此，消除了改变光学设置参数对检测的强度(荧光强度)的影响，并且观察的样本的恒定(荧光)强度将分别导致图像数据中的或者如用户通过观察构件(例如目镜)观察到的恒定强度值或亮度。

观察设备的调整尤其是自动执行的，即无需用户交互。

通过其他实施例可以改进本发明，这些实施例本身是有利的。如果省略的技术特征对于实现本发明的技术效果不是必需的，不同的实施例的技术特征可以彼此任意组合或者可以被省略。

术语确定或用于确定应被理解为找到或识别位置、大小或值，而不是固定、定义或指定位置、大小或值。

在以下描述中，作为荧光强度、显微镜或内窥镜或特定光学设置参数或曝光控制参数的表达不应被理解为限制本发明。这些表达应被理解为对强度、光学观察设备和光学设置或曝光控制参数整体的代表。类似地，单数或复数形式不限制保护范围。

本发明的方法尤其可以使用校准数据来依据至少一个光学设置参数自动调整至少一个曝光控制参数。

因此，适于执行本发明的方法的该实施例的相应的本发明的控制器可以包括具有先前保存的校准数据的至少一个存储模块。