[发明专利]一种测试导线排版结构、显示面板和显示装置

说明书

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种测试导线排版结构、显示面板和显示装置，用以缓解现有技术中激光切割导线导致相邻导线熔断搭接形成短路的问题。该测试导线排版结构包括至少一层布线层、排布在至少一层布线层中的若干条内部连接导线，以及与若干条内部连接导线一一对应导通的若干条外延测试导线，若干条内部连接导线相互绝缘间隔设置，其中至少一条内部连接导线与其他内部连接导线位于不同层，若干条外延测试导线的固定端位于同一层。本申请方案中的内部连接导线位于不同平面上能增加相邻导线之间的距离。由于相邻导线间距较大，所以切割时相邻导线熔化变形并搭接短路的可能性较小，能提高激光切割后显示面板的良率。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种测试导线排版结构、显示面板和显示装置。

背景技术

在现有的生产显示面板的过程中，往往需要对生产出的显示面板进行测试。电流型Array Test(AT)是一种现有的外接型测试电路，在测试过程中，该AT电路往往设置在显示区的一侧，AT电路与显示区通过切割区的一排金属线连通，测试完毕后，往往需要利用激光对切割区的金属线进行切割，将AT电路切割下来，并对连通于显示区的金属线被切割的一端涂封装胶。

在激光切割的过程中，高温使金属线熔断，现有技术中相邻金属线间距较小，熔断的金属线末端往往会出现相互搭接的情况，造成导线区中相邻金属线短路。随后在显示面板通电运行时，短路的金属线有可能烧毁显示器件或芯片，造成显示不良甚至显示面板报废的问题。

发明内容

本申请实施例提供一种测试导线排版结构、显示面板和显示装置，用以缓解现有技术中激光切割导线导致相邻导线熔断搭接形成短路的问题。

本申请实施例采用下述技术方案：

一种测试导线排版结构，包括至少一层布线层、排布在所述至少一层布线层中的若干条内部连接导线，以及与所述若干条内部连接导线一一对应导通的若干条外延测试导线，所述若干条内部连接导线相互绝缘间隔设置，其中至少一条所述内部连接导线与其他所述内部连接导线位于不同层，所述若干条外延测试导线的固定端位于同一层。

较优地，当所述布线层的数量为多层时，所述若干条外延测试导线的所述固定端夹设在相邻两层布线层之间，且具有导通关系的所述内部连接导线与所述外延测试导线在所述布线层的正投影存在交叠。

较优地，所述至少一层布线层至少包括层叠设置的第一布线层、第二布线层，所述若干条内部连接导线分布在所述第一布线层和所述第二布线层中；其中，位于同一布线层中的所述内部连接导线等间距分布。

较优地，位于所述第一布线层中的所述内部连接导线与位于所述第二布线层中的所述内部连接导线交替排布。

较优地，在相邻两层布线层之间设置有绝缘层。

较优地，位于所述第一布线层中的所述内部连接导线的间距大于或等于与所述第二布线层中的所述内部连接导线的线宽。

较优地，所述内部连接线的线宽大于与所述内部连接线具有导通关系的所述外延测试导线的线宽。

较优地，所述内部连接导线包括远离所述外延测试导线的第一线端和靠近所述外延测试导线的第二线端，所述第一线端的阻抗高于所述第二线端的阻抗。

较优地，所述第一线端材质为P型掺杂多晶硅，第二线端的材质为金属。

一种显示面板，包括上述任一种所述的测试导线排版结构。

本申请实施例采用的上述至少一个技术方案能够达到以下有益效果：