[发明专利]一种集成电路测试设备的多功能测试板及测试方法

说明书

本发明涉及一种集成电路测试设备的多功能测试板及测试方法，该多功能测试板包括加载板、测试主板以及接口板，加载板与测试仪连接，测试主板分别与加载板以及接口板连接，接口板通过夹具与集成电路连接，测试主板上设有待测集成电路U1以及切换元件，加载板与切换元件连接，切换元件与接口板连接，接口板与待测集成电路U1连接；加载板与接口板连接；通过切换该切换元件，以使加载板与接口板及待测集成电路U1之间不同通道连接，以进行不同集成电路的测试。本发明可同时测试多个同类型或不同类型的集成电路，测试成本低、周期短、效率高；覆盖多种电参数测试，测试结果可靠性强；采用语音反馈测试结果，更加直观、人性化。

技术领域

本发明涉及集成电路测试方法，更具体地说是指一种集成电路测试设备的多功能测试板及测试方法。

背景技术

集成电路产业主要由设计业、制造业、封装业、测试业等组成，其中测试业作为集成电路产业非常重要的一环，已形成一种独立的集成电路配套产业。近年来，中国集成电路封装行业发展迅速，国家政策扶持力度很大，又有完善的政策资金支持，因此国内封装测试企业成长很快。同时，国外半导体公司向国内大举转移封装测试业务，中国的集成电路封装测试行业充满生机，目前封装测试业已成为我国集成电路产业链中最具有国际竞争力的环节，成品测试作为测试最后一道工序，其重要性不言而喻。

目前一个成品集成电路的完整电性能测试过程如下：根据集成电路的数据手册、用户的测试计划、集成电路功能原理、电性能参数、相关测试标准，制定测试方案；根据集成电路测试设备制定电性能测试方案，设计测试电路图并做仿真试验；根据测试电路图绘制测试电路板，生产制作测试电路板；根据集成电路的封装形式定制专用测试夹具，生产制作测试夹具；根据测试电路图，使用专用测试仪进行测试程序开发并进行仿真试验；根据测试方案及测试电路图，对测试电路板所需模块进行物理连接，上机测试、调试；对测试结果进行验证、分析和评审。

对于上述的过程而言，整个测试流程较为复杂，不同类型的集成电路测试时，需要设置不同的电路板，通用性低，且成本高；对于集成电路测试时需要进行不同封装测试夹具之间的切换，且无法同时对多数量的集成电路的电性能进行测试，测试效率低，测试周期长；另外，测试结果可靠性低，对于结果的提醒也不具备人性化。

因此，有必要设计一种系统，实现同时可测试不同类型，同类型多数量的集成电路，成本低、测试效率高、测试周期短、测试结果可靠性强且测试结果提醒较为人性化。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种集成电路测试设备的多功能测试板及测试方法。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：一种集成电路测试设备的多功能测试板，包括加载板、测试主板以及接口板，所述加载板与测试仪连接，所述测试主板分别与所述加载板以及接口板连接，所述接口板通过夹具与集成电路连接，所述测试主板上设有待测集成电路U1以及切换元件，所述加载板与所述切换元件连接，所述切换元件与所述接口板连接，所述接口板与所述待测集成电路U1连接；所述加载板与所述接口板连接；通过切换所述切换元件，以使加载板与接口板及待测集成电路U1之间不同通道连接，以进行不同集成电路的测试。

其进一步技术方案为：所述切换元件包括继电器K1至K20。

其进一步技术方案为：所述继电器K5与所述待测集成电路U1之间连接有电位器R5、MOS管Q1以及电感L1，所述继电器K6与所述MOS管Q1连接。

其进一步技术方案为：所述继电器K11与所述待测集成电路U1之间连接有电位器R11、MOS管Q2以及电感L2，所述继电器K9与所述MOS管Q2连接。

其进一步技术方案为：所述继电器K8与所述继电器K20并联，所述继电器K7与所述继电器K19并联。