[发明专利]一种射频校准方法、装置及电子装置和计算机可读存储介质

说明书

一种射频校准方法、装置及计算机可读存储介质，确定待校准设备的射频校准参数；获取所述待校准设备的校准项目信息，并根据所述校准项目信息确定对应于所述校准项目信息的校准参数生效地址；将所述射频校准参数写入所述校准参数生效地址，并控制所述射频校准参数生效；在对射频校准参数生效后的待校准设备进行发射功率的检测通过时，则确定所述待校准设备通过产线校准综测。本申请基于上述方案对不同校准项目进行区分而适应性进行射频校准，提升了射频产品性能的一致性，保证了射频产品综测通过率，优化了射频产品的性能。

技术领域

本申请涉及电子通信技术领域，尤其涉及一种射频校准方法、电子装置及计算机可读存储介质。

背景技术

随着电子通信技术的不断发展和广泛应用，电子通信设备正日益成为用户日常生活中不可或缺的一部分，而射频产品在生产完成后、出厂前，需要进行数次测试，以保证射频性能的稳定性，目前所采用的常规校准方式是选取一组金机进行调试，以确定一个校准参数即golden bin，然后针对所有的射频产品均采用该同一校准参数进行校准。然而，在实际应用中，射频产品之间通常具备一定的差异性，而采用同一校准参数进行校准则会导致射频产品性能的一致性不佳，即部分产品的性能较好，部分产品的性能相对略差，而性能略差的产品的实际发射功率与所期望的发射功率之间具有一定的偏差，无法保证每个射频产品的性能均达到最优。

发明内容

本申请实施例提供一种射频校准方法、装置及计算机可读存储介质，至少能够解决相关技术中采用同一校准参数对批量射频产品进行校准，所导致的射频产品性能的一致性不佳，无法保证每个射频产品的性能均达到最优的问题。

为解决上述问题，本申请实施例第一方面提供一种射频校准方法，该射频校准方法包括：

确定待校准设备的射频校准参数；

获取所述待校准设备的校准项目信息，并根据所述校准项目信息确定对应于所述校准项目信息的校准参数生效地址；

将所述射频校准参数写入所述校准参数生效地址，并控制所述射频校准参数生效；

在对射频校准参数生效后的待校准设备进行发射功率的检测通过时，则确定所述待校准设备通过产线校准综测。

本申请实施例第二方面提供一种射频校准装置，包括：

参数确定模块，用于确定待校准设备的射频校准参数；

地址确定模块，用于获取所述待校准设备的校准项目信息，并根据所述校准项目信息确定对应于所述校准项目信息的校准参数生效地址；

参数生效模块，用于将所述射频校准参数写入所述校准参数生效地址，并控制所述射频校准参数生效；

校准综测模块，用于在对射频校准参数生效后的待校准设备进行发射功率的检测通过时，则确定所述待校准设备通过产线校准综测。

本申请实施例第三方面提供一种电子装置，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时，实现上述本申请实施例第一方面提供的射频校准方法中的各步骤。

本申请实施例第四方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，实现上述本申请实施例第一方面提供的射频校准方法中的各步骤。

由上述技术方案可见，由校准项目信息确定对应于所述校准项目信息的校准参数生效地址，并控制相应于校准项目信息的射频校准参数生效，即，针对不同校准项目而适应性地进行射频校准，例如，不同校准项目采用不同射频校准参数进行射频校准，因此，提升了不同射频产品校准后性能的一致性，保证了射频产品综测通过率，优化了射频产品的性能。

附图说明

图1为本申请第一实施例提供的射频校准方法的基本流程示意图；