[发明专利]电子设备的天线调节方法及装置、电子设备、存储介质在审

专利信息
申请号: 201910015972.0 申请日: 2019-01-03
公开(公告)号: CN111405085A 公开(公告)日: 2020-07-10
发明(设计)人: 王静松 申请(专利权)人: 北京小米移动软件有限公司
主分类号: H04M1/02 分类号: H04M1/02;H04M1/725;H01Q1/44;G01V1/00
代理公司: 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 代理人: 林祥
地址: 100085 北京市海淀区清河*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 电子设备 天线 调节 方法 装置 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种电子设备,其特征在于,包括:

金属边框,所述金属边框被配置为天线辐射体;

超声波发射部,所述超声波发射部设于所述金属边框的内侧,可向所述金属边框的外侧发射超声波信号;

超声波接收部,所述超声波接收部设于所述金属边框的内侧,用于接收反射信号,以使得所述电子设备根据所述反射信号的信号强度确定是否存在靠近所述金属边框的待测对象,所述反射信号由所述待测对象反射所述超声波发射部发射的超声波信号形成。

2.根据权利要求1所述的电子设备,其特征在于,所述金属边框、所述超声波发射部和所述超声波接收部均位于所述电子设备的底部。

3.根据权利要求2所述的电子设备,其特征在于,所述金属边框为所述电子设备的主集天线,所述超声波发射部包括所述电子设备的扬声器,所述超声波接收部包括所述电子设备的送话器。

4.根据权利要求1所述的电子设备,其特征在于,还包括:

控制模块,所述控制模块在存在靠近所述金属边框的待测对象的情况下,降低所述金属边框作为天线辐射体时的电磁波吸收比值。

5.一种电子设备的天线调节方法,其特征在于,所述电子设备包括金属边框、超声波发射部和超声波接收部,所述金属边框被配置为天线辐射体,所述超声波发射部和所述超声波接收部设于所述金属边框的内侧,所述超声波接收部可接收由待测对象反射所述超声波发射部向所述金属边框外侧发射的超声波信号所形成的反射信号;所述方法包括:

获取所述反射信号的信号强度;

根据所述信号强度确定是否存在靠近所述金属边框的所述待测对象;

当确定存在靠近所述金属边框的所述待测对象时,降低所述金属边框作为天线辐射体时的电磁波吸收比值。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述超声波发射部在所述电子设备处于通话状态时向所述金属边框外侧发射超声波信号,以及所述超声波接收部在所述电子设备处于通话状态时接收所述反射信号;所述获取所述反射信号的信号强度,包括:

当所述电子设备处于通话状态时,获取所述反射信号的信号强度。

7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据所述信号强度确定是否存在靠近所述金属边框的所述待测对象,包括:

当所述信号强度超过预设强度阈值时,判定存在靠近所述金属边框的所述待测对象。

8.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述降低所述金属边框作为天线辐射体时的电磁波吸收比值,包括:

降低所述金属边框作为天线辐射体时的发射功率,以降低所述电磁波吸收比值。

9.一种电子设备的天线调节装置,其特征在于,所述电子设备包括金属边框、超声波发射部和超声波接收部,所述金属边框被配置为天线辐射体,所述超声波发射部和所述超声波接收部设于所述金属边框的内侧,所述超声波接收部可接收由待测对象反射所述超声波发射部向所述金属边框外侧发射的超声波信号所形成的反射信号;所述装置包括:

获取单元,获取所述反射信号的信号强度;

确定单元,根据所述信号强度确定是否存在靠近所述金属边框的所述待测对象;

调节单元,当确定存在靠近所述金属边框的所述待测对象时,降低所述金属边框作为天线辐射体时的电磁波吸收比值。

10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述超声波发射部在所述电子设备处于通话状态时向所述金属边框外侧发射超声波信号,以及所述超声波接收部在所述电子设备处于通话状态时接收所述反射信号;所述获取单元包括:

获取子单元,当所述电子设备处于通话状态时,获取所述反射信号的信号强度。

11.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述确定单元包括:

判定子单元,当所述信号强度超过预设强度阈值时,判定存在靠近所述金属边框的所述待测对象。

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