[发明专利]扬声器寿命测试系统

说明书

本发明实施例提供了一种扬声器寿命测试系统，可以通过上位机有效的监控批量扬声器的实时工作状态，并保存整个测试状态的测试数据，样本数量多，测试时间长，数据量丰富。上位机根据单片机发送的信息以及每个测流电阻连接的扬声器中振膜的振幅，可以对扬声器寿命测试过程进行分析，进而判断扬声器是否损坏，不需要等待扬声器厂家测试后才能得到反馈，缩短了判断周期。还可以进一步确定与每个测试电阻连接的扬声器在何时、什么条件下损坏，有助于对扬声器的某种保护措施给出合理的反馈意见。

技术领域

本发明实施例涉及扬声器寿命测试技术领域，更具体地，涉及扬声器寿命测试系统。

背景技术

目前，扬声器寿命测试系统用于验证扬声器在连接智能功放进行连续长时间工作的条件下，在某种保护算法(振幅保护算法、温度保护算法或功率保护算法)保护下是否仍会被损坏。其中，损坏可具体包括扬声器振幅频繁超过物理极限导致的机械损坏，以及长时间的过温工作导致的热损坏。

现有的对扬声器寿命的测试过程是通过智能功放对扬声器施加设定时间的激励信号。在施加设定时间的激励信号后，通过扬声器厂家使用专业设备测试得到的扬声器输出的声信号确定扬声器是否损坏，然后再调整下一次寿命测试的时间，直到确定损坏的临界时间。现有的对扬声器寿命的测试无法对测试过程进行分析，并不能确定扬声器在何时，什么条件下被损坏，只能确定扬声器是否损坏以及损坏的临界时间，这种反馈结果，使得保护算法的验证周期时间长，效率低。

发明内容

为克服上述问题或者至少部分地解决上述问题，本发明实施例提供了一种扬声器寿命测试系统。

本发明实施例提供了一种扬声器寿命测试系统，包括：寿命测试板、多个位移传感器以及上位机；所述寿命测试板上设置有单片机、多个测流电阻、多路差分电压信号测量模块、多个功放芯片、多个温度传感器以及多个位移传感器；

所述测流电阻、所述多路差分电压信号测量模块中的一路、所述功放芯片、所述温度传感器以及所述位移传感器一一对应，每个所述测流电阻与一扬声器串联连接；所述多路差分电压信号测量模块、每个所述功放芯片以及每个所述温度传感器均与所述单片机连接；所述单片机和每个所述位移传感器均与所述上位机连接；每个所述功放芯片与对应的所述测流电阻连接的扬声器相连；

所述多路差分电压信号测量模块中的一路用于测量对应的所述测流电阻两端的电压，以及用于测量对应的所述测流电阻连接的扬声器中线圈两端的电压；每个所述温度传感器用于测量对应的所述测流电阻所处的环境温度，每个所述位移传感器用于测量对应的所述测流电阻连接的扬声器中振膜的振幅；

所述单片机用于获取每个所述测流电阻两端的电压以及每个所述测流电阻所处的环境温度，并基于每个所述测流电阻两端的电压、每个所述测流电阻的阻值以及每个所述测流电阻所处的环境温度，确定流过每个测流电阻的电流；

所述单片机还用于获取每个所述测流电阻连接的扬声器中线圈两端的电压，并与每个所述测流电阻两端的电压、每个所述测流电阻所处的环境温度以及流过每个所述测流电阻的电流进行汇总，汇总后发送至所述上位机；

所述上位机用于在每个所述测流电阻连接的扬声器的输入信号为扫频信号时，基于所述单片机发送的信息，实时确定每个所述测流电阻连接的扬声器是否被损坏。

本发明实施例提供的一种扬声器寿命测试系统，可以通过上位机有效的监控批量扬声器的实时工作状态，并保存整个测试状态的测试数据，样本数量多，测试时间长，数据量丰富。上位机根据单片机发送的信息以及每个测流电阻连接的扬声器中振膜的振幅，可以对扬声器寿命测试过程进行分析，进而判断扬声器是否损坏，不需要等待扬声器厂家测试后才能得到反馈，缩短了判断周期。还可以进一步确定与每个测试电阻连接的扬声器在何时、什么条件下损坏，有助于对扬声器的某种保护措施给出合理的反馈意见。

附图说明