[发明专利]一种计轴系统综合模拟测试平台

说明书

本发明公开了一种计轴系统综合模拟测试平台，包括光电开关状态信息采集电路、MCU、人机交互界面、RGB灯控制电路和RGB灯调整电路，所述光电开关状态信息采集电路连接MCU，MCU依靠LCD12864提供人机交互界面，MCU还连接RGB灯控制电路，RGB灯控制电路还连接RGB灯调整电路，本发明计轴系统综合模拟测试平台模拟出一套关于计轴日常使用中由于某些原因导致计轴磁头受到干扰引发故障该如何处理的培训平台，从而达到提高维修人员的技术水平的目的。

技术领域

本发明涉及一种测试平台，具体是一种计轴系统综合模拟测试平台。

背景技术

据考证，现在关于计轴系统方面的发明不在少数，其中有对磁头本身关于磁感线原理的研究,也有基于新式原理提出的计轴系统，还有对轨道区段占用及空闲检测的区段模拟。但对于日常维护而言，这些发明创造都不足以在维护中起到明显的作用，因计轴磁头受到干扰而引发的计轴系统区段异常的现象该如何处理，以上发明也均未提及到。

本设计模拟出一套关于计轴日常使用中由于某些原因导致计轴磁头受到干扰引发故障该如何处理的培训平台，从而达到提高维修人员的技术水平的目的。

发明内容

本发明的目的在于提供一种计轴系统综合模拟测试平台，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种计轴系统综合模拟测试平台，包括光电开关状态信息采集电路、MCU、人机交互界面、RGB灯控制电路和RGB灯调整电路，所述光电开关状态信息采集电路连接MCU，MCU依靠LCD12864液晶屏提供人机交互界面，MCU还连接RGB灯控制电路，RGB灯控制电路还连接RGB灯调整电路。

作为本发明的进一步技术方案：所述光电开关状态信息采集电路包括芯片U1、芯片U2、芯片U3、芯片U4和芯片U5，芯片U1的脚9连接芯片U2的脚10，芯片U2的脚9连接芯片U3的脚10，芯片U3的脚9连接芯片U4的脚10，芯片U4的脚9连接芯片U5的脚10，芯片U5的脚7输出信号到MCU，芯片U1、芯片U2、芯片U3、芯片U4和芯片U5的型号均为74LS165。

作为本发明的进一步技术方案：所述RGB灯控制电路包括芯片U6、芯片U7和芯片U8，芯片U6的9连接芯片U7的脚14，芯片U7的9连接芯片U8的脚14，芯片U6、芯片U7和芯片U8的型号均为74LS595。

作为本发明的进一步技术方案：所述RGB灯控制电路包括若干个RGB灯，每个RGB灯支路上均串联有一个用于调节灯光的电位器和一个限流电阻。

作为本发明的进一步技术方案：每个RGB灯均由光的三基色：红、绿、蓝三种颜色组成。

作为本发明的进一步技术方案：所述电位器的最大阻值为100Ω，限流电阻阻值为100Ω。

作为本发明的进一步技术方案：所述MCU的型号为MSP430F149。

作为本发明的进一步技术方案：所述人机交互界面为LCD12864液晶屏。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明计轴系统综合模拟测试平台模拟出一套关于计轴日常使用中由于某些原因导致计轴磁头受到干扰引发故障该如何处理的培训平台，从而达到提高维修人员的技术水平的目的。

附图说明

图1为本发明的方框图。

图2为光电开关状态信息采集电路图。

图3为RGB灯控制电路图。

图4为RGB灯调整电路图。

图5为人机交互界面LCD12864液晶屏电路连接图。

图6为本发明的流程图。