[发明专利]放射线检测器和放射线检测系统有效
申请号: | 201880073346.0 | 申请日: | 2018-09-11 |
公开(公告)号: | CN111356938B | 公开(公告)日: | 2023-09-26 |
发明(设计)人: | 井上正人 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | G01T1/20 | 分类号: | G01T1/20 |
代理公司: | 北京怡丰知识产权代理有限公司 11293 | 代理人: | 迟军;李艳丽 |
地址: | 日本国东京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 放射线 检测器 检测 系统 | ||
本发明提供放射线检测器和放射线检测系统。放射线检测器(1a)用于适当地分离放射线的低能量成分信息和高能量成分信息,并包括:传感器面板(2),其包括二维布置的多个第一光电转换元件部(23)和第二光电转换元件部(24);第一闪烁体(31),其被布置为与传感器面板(2)的一面重叠;第二闪烁体(32),其被布置为与传感器面板(2)的一面相对的一侧上的面重叠;以及遮光部(26),其被布置在有效像素区域(22)中布置了多个第一光电转换元件部(23)和第二光电转换元件部(24)的区域的外部,并且在第一闪烁体(31)和第二闪烁体(32)之间。
技术领域
本发明涉及一种放射线检测器和放射线检测系统。
背景技术
在放射线图像拍摄中,已知一种能量减法,即:使用不同的能量成分拍摄多个放射线图像,并对所拍摄的多个放射线图像进行差分运算,以使得能够例如辨别放射线图像中成像的被摄体。作为通过一次放射线照射获得不同能量成分的放射线图像而不会引起位置偏移的配置,专利文献1公开了如下配置:在基板的一面和另一面上布置用于在放射线入射时发射光的波长转换部,通过第一光电二极管检测通过基板的一面上布置的波长转换部发射的光,通过第二光电二极管检测通过另一面上布置的波长转换部发射的光。专利文献1还公开了如下配置:允许放射线从基板的一面侧进入,以便通过第一光电二极管检测低能量成分,通过第二光电二极管检测高能量成分。
在专利文献1中描述的X射线检测元件中,还将波长转换部布置在布置有第一光电二极管和第二光电二极管的区域的外部。通过这种配置,通过基板的一面上布置的波长转换部发射的光可以透过基板进入另一面上布置的波长转换部,并且可以由基板和波长转换部之间的界面反射,从而进入第二光电二极管。结果是,在由第二光电二极管检测的高能量成分所生成的放射线图像中可能会混入低能量成分的信息。因此,存在辨别被摄体的精度可能降低的担忧。
引用列表
专利文献
PTL 1:日本专利特开No.2010-56396
发明内容
技术问题
鉴于上述情况,本发明要解决的问题是,在用于拍摄不同能量成分的放射线图像的放射线检测器中,针对各个能量成分的放射线图像合适地分离不同能量成分的信息。
问题的解决方案
为了解决上述问题,本发明的一个实施例提供了一种放射线检测器,所述放射线检测器包括:传感器面板,其包括二维布置的多个光电转换元件部;第一闪烁体,其被布置为与所述传感器面板的一面重叠;第二闪烁体,其被布置为与所述传感器面板的一面相对的一侧上的面重叠;以及遮光部,其被布置在布置了所述多个光电转换元件部的区域的外部,并且在所述第一闪烁体和所述第二闪烁体之间。
发明的有益效果
根据本发明,在用于拍摄不同能量成分的放射线图像的放射线检测器中,能够针对各个能量成分的放射线图像适当分离不同能量成分的信息。
通过下文将要参照附图描述的实施例,本发明的其他特征将变得更加显而易见。
附图说明
图1是根据本发明的第一实施例的放射线检测器的剖面图。
图2是根据第一实施例的放射线检测器的平面图。
图3A是光电转换元件部的剖面图。
图3B是光电转换元件部的剖面图。
图4A是根据本发明的第二实施例的放射线检测器的剖面图和平面图。
图4B是根据第二实施例的放射线检测器的剖面图和平面图。
图5是根据本发明的第三实施例的放射线检测器的剖面图。
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