[发明专利]用于光子计数计算机断层摄影的低轮廓防散射和防电荷共享光栅

说明书

一种用于X射线成像的防散射光栅(ASG)，具有由多个条带(LAM)形成的表面(S)。所述多个条带包括在平行于所述表面的方向上比所述多个条带(LAM)中的一个或多个条带(l_i)更厚的至少两个保护条带(L_i、L_i+1)。所述一个或多个条带(l_i)位于所述两个保护条带(L_i、L_i+1)之间。

技术领域

本发明涉及防散射光栅、成像模块和成像装置。

背景技术

一些X射线成像装置(诸如计算机断层摄影(CT)扫描器或其他)使用能量辨别探测器设备。与仅能量积分的更常规探测器不同，能量辨别探测器系统能够分析X辐射的能量谱。该额外信息提取允许例如谱成像以获悉成像样本的材料组成。

一种类型的这样的能量辨别探测器系统是直接转换光子计数探测器。这些主要使用非结构化半导体以将X辐射转换为探测器信号。结构化或者“像素化”通过将多个电极布置在半导体上实现。电极记录由于撞击光子在半导体内形成的电荷云引起的光子事件。电极以能够处理为谱图像数据的电脉冲的形式提供探测器信号。

“电荷共享”的不期望的现象可以在这些类型的探测器或者类似事件计数器中发生。“电荷共享”是其中完全相同光子事件由电极中的超过一个记录的效果并且这能够干扰成像装置的能量辨别能力。

降低电荷共享的影响的一种方式是使用分析不同像素的探测信号的算法。在电荷共享事件的情况下，具有小脉冲高度的许多脉冲在邻近像素内在相同时间实例处被探测。脉冲高度可以组合以恢复初始脉冲高度。

发明内容

可能存在对于改进基于事件计数的成像的备选方式。

本发明的目的由独立权利要求的主题解决；其他实施例被包含在从属权利要求中。应当注意，以下所描述的方面同样适用于成像模块和成像装置。

根据本发明的第一方面，提供了一种用于X射线成像的防散射光栅(ASG)，具有由多个条带形成的表面，所述多个条带包括在平行于所述平面的方向上比所述多个条带中的一个或多个条带更厚的至少两个保护条带，所述一个或多个条带位于所述两个保护条带之间。

根据一个实施例，所述至少两个保护条带由箔形成。

根据一个实施例，所述箔是金属的。特别地并且根据一个实施例，所述箔包括以下中的任一项或组合：钼或铅、或钨。使用箔是成本有效的并且允许以大约1mm-4mm的ASG的总高度建造的特别低的轮廓。相同长宽比可以利用与具有针对相同长宽比高大约10倍的高度的常规ASG相比较更低的轮廓实现。

根据一个实施例，ASG具有大约10至40的长宽比。

根据一个实施例，所述至少两个保护条带中的至少一个的厚度是大约20μm至200μm。

根据一个实施例，所述一个或多个条带中的至少一个的厚度是大约5μm至50μm。

根据第二方面，提供了一种成像模块，包括：X射线探测器，其具有至少一个探测器像素；以及如上文所描述的ASG，其中，所述至少两个保护条带之间的距离对应于能够在所述探测器(XD)中形成的光子的平均电荷云直径或者平均散布。所述平均电荷云在直接转换类型探测器的转换层中形成，而光子的散布在间接类型探测器的闪烁体层中形成。

根据一个实施例，所述至少两个保护条带中的至少一个位于两个探测器像素之间，从而降低由所述两个探测器像素对X辐射事件的探测的可能性。X辐射事件例如是由于X辐射影响形成的电荷云。

根据一个实施例，所述至少一个像素的所述大小在50μm与1mm之间。

根据第三方面，提供了一种成像装置，包括如上文所描述的防散射光栅或者如上文所描述的成像模块。