[发明专利]静电线性离子阱质谱仪有效
申请号: | 201880060331.0 | 申请日: | 2018-09-13 |
公开(公告)号: | CN111133553B | 公开(公告)日: | 2023-05-05 |
发明(设计)人: | 马场崇;E·T·杰孔斯基 | 申请(专利权)人: | DH科技发展私人贸易有限公司 |
主分类号: | H01J49/42 | 分类号: | H01J49/42;H01J49/28;H01J49/00 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 马景辉 |
地址: | 新加坡*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 静电 线性 离子 质谱仪 | ||
1.一种静电线性离子阱,用于测量一或多个离子的感应电流并通过将所述感应电流与来自反射反射器板的测量组合来减少所述感应电流的高次频率谐波,其包括:
第一组反射器板,其中心具有沿中心轴线同轴对准的孔,其中所述第一组板包含第一入口板,其后是第一多个反射板,再其后是第一多个捕获板;
圆柱形拾波电极,其被定位成使得所述拾波电极的第一端与所述第一组板中的所述第一入口板相邻,并且所述拾波电极沿所述中心轴线与所述第一组板同轴对准;
第二组反射器板,其中心具有沿所述中心轴线与所述拾波电极同轴对准的孔,其中所述第二组板包含第二入口板,其后是第二多个反射板,再其后是第二多个捕获板,并且其中所述第二组板被定位成使得所述第二入口板与所述圆柱形拾波电极的第二端相邻;
电压电源,用于向所述第一组反射器板中的一或多个板和所述第二组反射器板中的一或多个板施加单独的电压,以便捕获和振荡已经沿所述中心轴线通过所述第一组板和所述第二组板之间的所述第一组板的所述孔接收的一或多个离子;和
测量电路系统,用于从所述圆柱形拾波电极测量第一感应电流,从所述第一组反射器板中的一或多个板测量第二感应电流,并从所述第二组反射器板中的一或多个板测量第三感应电流,并且将所述第一测量感应电流与所述第二测量感应电流和所述第三测量感应电流组合,以确定所述一或多个离子的感应电流并减少所述感应电流的高次频率谐波。
2.根据权利要求1所述的静电线性离子阱,其中所述第一组反射器板中的所述一或多个板包含所述第一入口板和所述第一多个反射板中的一或多个板,并且其中所述第二组反射器板中的所述一或多个板包含所述第二入口板和所述第二多个反射板中的一或多个板。
3.根据权利要求2所述的静电线性离子阱,其中所述测量电路系统通过以下来将所述第一测量感应电流与所述第二测量感应电流和所述第三测量感应电流组合:
将所述第二测量感应电流、所述第三测量感应电流和所述第一测量感应电流的二倍求和。
4.根据权利要求3所述的静电线性离子阱,其中在将所述第二测量感应电流和所述第三测量感应电流与所述第一测量感应电流的二倍求和之前,将所述第二测量感应电流和所述第三测量感应电流调整为具有相同的相位。
5.根据权利要求1所述的静电线性离子阱,其中所述第一组反射器板中的所述一或多个板包含所述第一多个捕获板中的一或多个板,并且其中所述第二组反射器板中的所述一或多个板包含所述第二多个捕获板中的一或多个板。
6.根据权利要求5所述的静电线性离子阱,其中所述测量电路系统通过以下来将所述第一测量感应电流与所述第二测量感应电流和所述第三测量感应电流组合:
从所述第一测量感应电流减去所述第二测量感应电流和所述第三测量感应电流。
7.根据权利要求6所述的静电线性离子阱,其中所述测量电路系统包括差分跨阻放大器,并且其中所述圆柱形拾波电极电容性地耦合到所述差分跨阻放大器的第一输入,并且所述第一多个捕获板中的所述一或多个板和所述第二多个捕获板中的所述一或多个板各自电容性地耦合到所述差分跨阻放大器的第二输入,以执行所述减法。
8.根据权利要求1所述的静电线性离子阱,其中所述圆柱形拾波电极包含在所述圆柱形拾波电极的中间的圆形板,并且所述圆形板在中心具有孔。
9.根据权利要求1所述的静电线性离子阱,其中所述圆柱形拾波电极的直径是所述第一组板和所述第二组板之间的距离的长度的一半。
10.根据权利要求1所述的静电线性离子阱,其中所述第一多个反射板中的所述一或多个板的孔直径大于所述第一组板中的所述其它板的孔直径,并且所述第二多个反射板中的所述一或多个板的孔直径大于所述第二组板中的所述其它板的孔直径。
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