[发明专利]差示折光检测器

权利要求书

1.一种差示折光检测器，包括：

光源，发出测定光；

流动单元，试样溶液所流通的试样单元与参照溶液用的参照单元隔着隔离壁而设置，当所述试样单元的折射率与所述参照单元的折射率不同时，使来自所述光源的光折射；

光学系统，将来自所述光源的测定光照射至所述流动单元，使其透过所述流动单元的所述试样单元及所述参照单元，使透过所述流动单元的测定光的狭缝图像成像；以及

检测部，在透过所述流动单元的测定光的所述狭缝图像的成像位置包括受光面，且

构成为所述狭缝图像根据所述试样单元的折射率的变化而在所述受光面上向一定方向位移；并且

所述检测部在所述受光面包括两列受光元件列，所述受光元件列是多个受光元件在所述狭缝图像的位移方向连续配置而成，所述受光元件的所述位移方向的宽度大于所述狭缝图像的宽度且小于所述狭缝宽度的2倍，其中一个所述受光元件列中的邻接受光元件之间的边界以及位于最接近此边界的位置的另一个所述受光元件列中的邻接受光元件之间的边界在所述位移方向，仅偏移比所述位移方向上的所述狭缝图像的宽度小的宽度，

所述狭缝图像设定为成像于两受光元件列上，

所述差示折光检测器包括：测定受光元件对选择部，构成为选择所述检测部的受光元件中的任一个所述受光元件列中相互邻接的一对受光元件且在其边界上成像有狭缝图像的一对受光元件，来作为测定受光元件对；以及

运算部，构成为取入所述测定受光元件对的检测信号，且根据这些受光元件的检测信号的差分来求出所述狭缝图像的位移量,

所述运算部构成为，将形成所述测定受光元件对的受光元件的检测信号的差分值除以这些检测信号的相加值，将所得的值用于所述狭缝图像的位移量的运算。

2.根据权利要求1所述的差示折光检测器，其中，

所述测定受光元件对选择部构成为，在测定中，从所述检测部的所有所述受光元件定期地取入检测信号，当根据此检测信号而检测到在与选择中的一对受光元件不同的其它邻接的一对受光元件的边界上成像有所述狭缝图像时，将此一对受光元件设为新的测定受光元件对。

3.根据权利要求1所述的差示折光检测器，还包括：

测定受光元件对预测部，构成为基于在测定中由所述运算部求出的所述狭缝图像的位移量的时间变化，来预测接下来应该选作所述测定受光元件对的一对受光元件，并且

所述测定受光元件对选择部构成为，在测定中，定期取入由所述测定受光元件对预测部所预测的一对受光元件的检测信号，当根据此检测信号而检测到在此一对受光元件的边界上存在所述狭缝图像时，将此一对受光元件设为新的测定受光元件对。