[发明专利]功率转换系统和控制装置有效
申请号: | 201880056769.1 | 申请日: | 2018-08-28 |
公开(公告)号: | CN111066236B | 公开(公告)日: | 2023-02-03 |
发明(设计)人: | 上妻央;目黑光;三间彬;松元大辅 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立产业机器 |
主分类号: | H02M7/48 | 分类号: | H02M7/48 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳;徐飞跃 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 功率 转换 系统 控制 装置 | ||
本发明的目的在于使功率转换系统中的装置的寿命增加。为此,功率转换系统包括:多个功率转换装置(100‑1~100‑M),其对多个负载装置(104‑1~104‑M)分别供给电功率;和控制装置(130),其具有部件信息数据库(134)、运转信息数据库(136)和模式确定部(144);多个功率转换装置分别具有输出端子被并联连接的多个功率转换单元(10‑1~10‑N);多个功率转换单元分别具有至少一个半导体组件和至少一个电容器;模式确定部(144)基于部件信息数据库(134)和运转信息数据库(136),确定多个功率转换装置所包含的功率转换单元的输出电流的分散模式或运转控制模式。
技术领域
本发明涉及功率转换系统和控制装置。
背景技术
作为本技术领域的背景技术,在以下专利文献1中记载了:“即使在系统中发生了预料之外的事态的情况下,也能够适当地进行运转台数的控制,进行稳定的运用。”(参考摘要)。
另外,在以下专利文献2中,记载了:“……基于对温度输入部221、222输入的半导体开关的温度的信息和冷却介质的温度的信息运算热阻,判断冷却介质的温度变化是否在规定值以上,在冷却介质的温度变化在规定值以上且热阻在规定值以上时判断冷却性能已劣化……”(参考摘要)。
专利文献1:日本特开2014-53987号公报。
专利文献2:日本特开2015-53774号公报。
发明内容
发明要解决的技术问题
但是,专利文献1中,没有记载当功率转换装置内的器件中发生异常时能够实现寿命增加的具体内容。另外,专利文献2中,虽然能够检测半导体开关的劣化信息,但是没有记载能够实现半导体开关的寿命增加的具体内容。
用于解决问题的技术手段
本发明是鉴于上述情况得出的,目的在于提供一种能够使装置寿命增加的功率转换系统和控制装置。
为了解决上述问题,本发明的功率转换系统的特征在于,包括:对多个负载装置分别供给电功率的多个功率转换装置;以及控制装置,其具有部件信息数据库、运转信息数据库和模式确定部,多个所述功率转换装置分别具有输出端子被并联连接的多个功率转换单元,多个所述功率转换单元分别具有至少一个半导体组件和至少一个电容器,所述部件信息数据库存储有:多个所述功率转换装置所包含的所述半导体组件的热阻历史数据;和多个所述功率转换装置所包含的所述电容器的温度历史数据,所述运转信息数据库存储有多个所述功率转换装置所包含的所述半导体组件的输出电流的历史数据,所述模式确定部基于所述部件信息数据库和所述运转信息数据库,确定多个所述功率转换装置所包含的所述功率转换单元的输出电流的分散模式或运转控制模式。
发明效果
根据本发明的功率转换系统和控制装置,能够使装置寿命增加。
附图说明
图1是本发明的第一实施方式的功率转换系统的框图。
图2是第一实施方式中的功率转换单元和并联单元控制部的框图。
图3是表示功率半导体组件的功率周期试验结果的图。
图4是电容器的经年变化的说明图。
图5A是功率半导体组件的寿命特性图。
图5B是电容器的寿命特性图。
图6是第一实施方式中的控制程序的流程图。
图7A是功率半导体组件劣化时的功率半导体组件的寿命特性图。
图7B是功率半导体组件劣化时的寿命特性图。
图7C是功率半导体组件劣化时的负载电功率特性图。
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