[发明专利]试样观察装置和试样观察方法

说明书

试样观察装置(1)包括：向试样(S)照射面状光(L2)的照射部(11)；相对于面状光(L2)的照射面R在一个方向上扫描试样(S)的扫描部(12)；将来自试样(S)的荧光(J1)和散射光(J2)分别成像的成像部(17)；输出基于荧光(J1)的光像的第一图像数据(G1)和基于散射光(J2)的光像的第二图像数据(G2)的拍摄部(13)；基于多个第一图像数据(G1)生成荧光图像(F1)且基于多个第二图像数据(G2)生成散射光图像(F2)的图像处理部(32)；和基于散射光图像(F2)确定荧光图像(F1)中的试样(S)的存在区域(N4)，基于试样S的存在区域(N4)设定荧光图像(F1)中的解析区域(N5)的解析部(33)。

技术领域

本发明涉及试样观察装置和试样观察方法。

背景技术

作为观察细胞等试样的技术，例如有非专利文献1所记载的方法。该现有的方法中，利用荧光物质染色细胞核，基于激发荧光物质而得到的荧光图像确定细胞核的位置。然后，基于确定的细胞核的位置推测试样的存在区域，设定解析区域。

现有技术文献

非专利文献

非专利文献1：Perkin Elmer APPLICATION NOTE,“Image-based Quantificationof Apoptosisusing the Operetta”

发明内容

发明所要解决的课题

上述现有的方法中，仅是基于细胞核的位置推测试样的存在区域，难以说确定解析区域的精度充分。为了基于荧光强度高精度地实施试样的分析，需要能够以充分的精度确定解析区域的技术。

本发明是为了解决上述课题而提出的，其目的在于提供能够以充分的精度确定解析区域的试样观察装置和试样观察方法。

用于解决课题的方案

本发明的一个方面提供一种试样观察装置，其使用荧光来观察保持于试样容器的试样，该试样观察装置包括：向试样照射面状光的照射部；相对于面状光的照射面在一个方向上扫描试样的扫描部；将通过面状光的照射而在试样产生的荧光和散射光分别成像的成像部；拍摄部，其拍摄由成像部成像的荧光的光像的至少一部分而输出第一图像数据，且拍摄由成像部成像的散射光的光像的至少一部分而输出第二图像数据；图像处理部，其基于对于一个方向得到的多个第一图像数据生成荧光图像，并基于对于一个方向得到的多个第二图像数据生成散射光图像；和解析部，其基于散射光图像确定荧光图像中的试样的存在区域，基于试样的存在区域设定荧光图像中的解析区域，解析解析区域中的荧光的强度。

该试样观察装置中，基于来自试样的荧光生成荧光图像，基于来自试样的散射光生成散射光图像。能够根据散射光图像确定试样的轮廓形状。因此，能够根据基于散射光图像确定的试样的轮廓形状以充分的精度确定试样的存在区域。荧光图像中，基于确定的试样的存在区域设定解析区域，求取解析区域中的荧光强度，由此能够高精度地实施试样的分析。

另外，也可以是，成像部具有切换部，该切换部在成像光路上切换使荧光透过的第一滤光片和使散射光透过的第二滤光片。此时，能够通过简单的结构实现荧光与散射光的分割。

另外，也可以是，成像部具有分割荧光与散射光的光分割元件，拍摄部具有：拍摄由光分割元件分割后的荧光的至少一部分的第一光检测器；和拍摄由光分割元件分割后的散射光的至少一部分的第二光检测器。此时，能够通过简单的结构实现荧光与散射光的分割。

另外，也可以是，成像部具有分割荧光与散射光的光分割元件，拍摄部包括光检测器，该光检测器具有包含拍摄由光分割元件分割后的荧光的至少一部分的第一拍摄区域和拍摄由光分割元件分割后的散射光的至少一部分的第二拍摄区域的受光面。此时，能够通过简单的结构实现荧光与散射光的分割。