[发明专利]电子设备的故障验证方法及系统

说明书

一种电子设备(30)的故障验证方法及系统，所述电子设备(30)包括待验证器件；所述方法还包括：提供第一电源电压至所述电子设备(30)以使所述待验证器件满足材料失效条件(S210)；提供第二电源电压至所述电子设备(30)以判断所述电子设备(30)是否存在安全风险(S220)；其中，所述第一电源电压大于所述第二电源电压；所述安全风险是由所述待验证器件内的材料失效引起的。该方法及系统能够验证电子设备(30)由于内部器件的材料失效导致的安全风险。

技术领域

本公开涉及电子技术领域，具体而言，涉及一种电子设备的故障验证方法及系统。

背景技术

电源类的故障模拟作为失效模拟方法，用来验证产品是否有安全风险是目前行业内的普遍做法。

相关技术中，在故障模拟时，多是针对产品内的器件的开路和短路测试，但是，现实生产中，产品的器件失效很多情况下并不是完全开路或者完全短路的情况，这样会导致经过开短路测试的产品仍然存在安全隐患。

因此，需要一种新的电子设备的故障验证方法及系统。

在所述背景技术部分公开的上述信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

有鉴于此，本公开提供一种电子设备的故障验证方法及系统，能够验证电子设备由于内部器件的材料失效导致的安全风险。

本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。

根据本公开的第一方面，提出一种电子设备的故障验证方法，所述电子设备包括待验证器件；其中，所述方法包括：提供第一电源电压至所述电子设备以使所述待验证器件满足材料失效条件；提供第二电源电压至所述电子设备以判断所述电子设备是否存在安全风险；其中，所述第一电源电压大于所述第二电源电压；所述安全风险是由所述待验证器件内的材料失效引起的。

根据本公开的第二方面，提出一种电子设备的故障验证系统，其中，所述系统包括：电源，用于提供第一电源电压至所述电子设备，以使所述电子设备内的待验证器件满足材料失效条件；以及还用于提供第二电源电压至所述电子设备以判断所述电子设备是否存在安全风险；电子设备，与所述电源电连接；其中，所述第一电源电压大于所述第二电源电压；所述安全风险是由所述待验证器件内的材料失效引起的。

根据本公开的电子设备的故障验证方法及系统，首先提供一相对较高的第一电源电压至被测试的电子设备，以使其内部的待验证器件发生材料失效；在所述待验证器件发生材料失效后，再提供一相对较低的第二电源电压至所述电子设备，之后可以判断所述电子设备是否存在安全风险，因此，一方面，本公开实施例提供的技术方案可以模拟验证所述电子设备内的器件处于非完全开路状态或者短路状态下的中间状态存在的安全风险；另一方面，还可以模拟验证由于器件的材料失效导致的所述电子设备内部的其他器件失效的连锁失效安全风险，保证产品的安全风险可以被提前发现。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本公开。

附图说明

图1是根据一示例性实施例示出的一种电子设备的故障验证系统的系统架构图。

图2是根据一示例性实施例示出的一种电子设备的故障验证方法的流程图。

图3是根据另一示例性实施例示出的一种电子设备的故障验证方法的流程图。

图4示出图3的步骤S340的一示例性实施例的流程图。

图5示出图4的步骤S344的一示例性实施例的流程图。

图6是根据又一示例性实施例示出的一种电子设备的故障验证方法的流程图。