[发明专利]残留氯测定方法及残留氯测定装置在审
申请号: | 201880039750.6 | 申请日: | 2018-06-14 |
公开(公告)号: | CN110753840A | 公开(公告)日: | 2020-02-04 |
发明(设计)人: | 荣长泰明;渡边刚志;赤井和美;长岛绅一;児玉伴子;堀田国元 | 申请(专利权)人: | 学校法人庆应义塾;一般财团法人机能水研究振兴财团 |
主分类号: | G01N27/416 | 分类号: | G01N27/416;G01N27/26;G01N27/28;G01N27/30;G01N27/49 |
代理公司: | 11240 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 纪秀凤 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 残留 电位 导电性金刚石电极 银/氯化银电极 次氯酸根离子 次氯酸 温度测定部 电位窗 相加 游离 | ||
1.一种残留氯浓度测定方法,其通过使工作电极、对电极及参考电极接触有可能含有残留氯的试样溶液,并在所述工作电极与所述参考电极之间施加电压,测定该电压下的流经所述工作电极电流值,从而测定所述试样溶液中所包含的残留氯浓度,
所述工作电极为掺杂有硼的导电性金刚石电极,
所述参考电极为银/氯化银电极,所述残留氯浓度测定方法包括:
(i)测定将所述导电性金刚石电极相对于所述银/氯化银电极的电位设为0V~+1.6V的范围内的规定电位时的电流值,算出基于次氯酸根离子的残留氯浓度,
(ii)测定将所述导电性金刚石电极相对于所述银/氯化银电极的电位设为+0.4V~-1.0V的范围内的规定电位时的电流值,算出基于次氯酸的残留氯浓度,
(iii)将所述(i)所算出的基于次氯酸根离子的残留氯浓度与所述(ii)所算出的基于次氯酸的残留氯浓度相加,将所述相加而得的合计残留氯浓度作为所述试样溶液的残留氯浓度。
2.根据权利要求1所述的残留氯浓度测定方法,其中,在工序(iii)之后,进一步包括:
(iv)使温度测定部接触所述试样溶液,通过所述温度测定部测定所述试样溶液的液温,根据测定的液温算出温度校正值,
(v)针对权利要求1所述的相加而得的所述合计残留氯浓度基于所述工序(iv)的温度校正值进行校正,将校正后的合计残留氯浓度作为所述试样溶液的残留氯浓度。
3.一种测定pH的方法,通过使工作电极、对电极及参考电极接触有可能含有残留氯的试样溶液,并在所述工作电极与所述参考电极之间施加电压,测定该电压下的流经所述工作电极的电流值,从而测定所述试样溶液的pH,
所述工作电极为掺杂有硼的导电性金刚石电极,
所述参考电极为银/氯化银电极,所述测定pH的方法包括:
(i)测定将所述导电性金刚石电极相对于所述银/氯化银电极的电位设为0V~+1.6V的范围内的规定电位时的电流值,算出基于次氯酸根离子的残留氯浓度,
(ii)测定将所述导电性金刚石电极相对于所述银/氯化银电极的电位设为+0.4V~-1.0V的范围内的规定电位时的电流值,算出基于次氯酸的残留氯浓度,
(iii)将所述(i)所算出的基于次氯酸根离子的残留氯浓度与所述(ii)所算出的基于次氯酸的残留氯浓度进行比较从而算出组成比率,
(iv)通过将算出的所述组成比率适用至有效氯组成比率曲线从而算出pH,将算出的所述pH作为所述试样溶液的pH。
4.根据权利要求3所述的测定pH的方法,其中,在工序(iv)之后,进一步包括:
(v)使温度测定部接触所述试样溶液,通过所述温度测定部测定所述试样溶液的液温,根据测定的液温算出温度校正值,
(vi)针对权利要求3中所述的算出的所述pH基于所述工序(v)的温度校正值进行校正,将校正后的所述试样溶液的pH作为所述试样溶液的pH。
5.一种测定机器的自动诊断方法,在工序(iv)之后,进一步包括:
(v)使pH测定部接触所述试样溶液,通过所述pH测定部测定所述试样溶液的pH,
(vi)将权利要求3所述的根据流经所述工作电极的电流值所算出的pH与所述工序(v)的通过pH测定部所测定的pH进行比较,若为设定的误差以下,则判断测定机器正常。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法,还包括电极的初始化工序,
其中,电极的初始化工序包括将工序(i)及(ii)作为一对并反复进行一次以上,
(i)施加正或负的第一脉冲电压0.01~60秒钟,
(ii)施加与工序(i)中所施加的脉冲电压相反符号的负或正的第二脉冲电压0.01~60秒钟。
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