[发明专利]用于生成X射线的装置有效
申请号: | 201880034737.1 | 申请日: | 2018-05-30 |
公开(公告)号: | CN110663289B | 公开(公告)日: | 2020-12-01 |
发明(设计)人: | A·K·多卡尼亚;R·K·O·贝林 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | H05G1/52 | 分类号: | H05G1/52;H05G1/34 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 刘兆君 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 生成 射线 装置 | ||
1.一种用于生成X射线的装置(10),包括:
-阴极(20);
-阳极(30);
-至少一个电源(40);
-电子探测器(50);以及
-处理单元(60);
其中,所述至少一个电源被配置为在所述阴极与所述阳极之间产生电压;
其中,所述至少一个电源被配置为向所述阴极提供阴极电流;
其中,所述阴极相对于所述阳极被定位,并且所述阴极和所述阳极能够操作以使得从所述阴极发射的电子以与所述电压相对应的能量与所述阳极相互作用,并且其中,所述电子在焦斑处与所述阳极相互作用以生成X射线;
其中,所述电子探测器相对于所述阳极被定位,并且被配置为测量来自所述阳极的背散射电子信号;
其中,所述电子探测器被配置为将测得的背散射电子信号提供给所述处理单元;
其中,所述处理单元被配置为确定阴极电流校正和/或对所述阴极与所述阳极之间的所述电压的校正,其中,所述确定阴极电流校正和/或对所述阴极与所述阳极之间的所述电压的校正包括利用所述测得的背散射电子信号以及阳极表面粗糙度与背散射电子发射之间的相关性;并且
其中,所述处理单元被配置为将所述阴极电流校正和/或对所述阴极与所述阳极之间的所述电压的所述校正提供给所述至少一个电源。
2.根据权利要求1所述的装置,其中,所述确定阴极电流校正和/或对所述阴极与所述阳极之间的所述电压的校正包括利用阳极表面粗糙度与X射线发射之间的相关性。
3.根据权利要求1所述的装置,其中,所述背散射电子信号包括背散射电子电流的信号。
4.根据权利要求1所述的装置,其中,所述电子探测器包括多个电子探测元件和一孔口,并且其中,所述孔口位于所述阳极与所述多个电子探测元件之间。
5.根据权利要求4所述的装置,其中,所述处理单元被配置为确定所述焦斑的大小,其中,所述确定所述焦斑的大小利用所述测得的背散射电子信号。
6.根据权利要求4-5中的任一项所述的装置,其中,所述处理单元被配置为确定所述焦斑的位置,其中,所述确定所述焦斑的位置利用所述测得的背散射电子信号。
7.根据权利要求5所述的装置,其中,所述至少一个电源被配置为提供至少一个电压以将所述电子聚焦在所述焦斑处;并且其中,所述处理单元被配置为确定对所述至少一个电压的校正以将所述电子聚焦在所述焦斑处;并且其中,所述处理单元被配置为向所述至少一个电源提供所述校正。
8.根据权利要求1-5中的任一项所述的装置,其中,所述背散射电子信号包括背散射电子通量的信号。
9.根据权利要求1-5中的任一项所述的装置,其中,所述电子探测器被配置为测量来自所述阳极的X射线通量。
10.根据权利要求9所述的装置,其中,所述电子探测器包括闪烁体。
11.一种用于对目标进行成像的系统(100),包括:
-根据权利要求1-10中的任一项所述的用于生成X射线的装置(10);
-X射线探测器(110);以及
-输出单元(120);
其中,所述阴极(20)和所述阳极(30)被配置为相对于所述X射线探测器被定位,使得它们之间的区域的至少一部分是用于容纳目标的检查区域;
其中,所述X射线探测器被配置为采集所述目标的图像数据;并且
其中,所述输出单元被配置为输出表示所述目标的所述图像数据的数据。
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