[发明专利]使用了芴化合物的抗蚀剂下层膜形成用组合物有效

专利信息
申请号: 201880027112.2 申请日: 2018-04-20
公开(公告)号: CN110546570B 公开(公告)日: 2023-07-25
发明(设计)人: 德永光;桥本圭祐;坂本力丸 申请(专利权)人: 日产化学株式会社
主分类号: G03F7/11 分类号: G03F7/11;C08G61/12;H01L21/027
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 曾祯;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 使用 化合物 抗蚀剂 下层 形成 组合
【权利要求书】:

1.一种抗蚀剂下层膜形成用组合物,其包含下述式(1)所示的化合物,

在式(1)中,

表示单键或双键,

X1表示-N(R1)-或-CH(R1)-,

X2表示-N(R2)-或-CH(R2)-,

X3表示-N=、-CH=、-N(R3)-或-CH(R3)-,

X4表示-N=、-CH=、-N(R4)-或-CH(R4)-,

X1、X2、X3、X4的至少一个包含氮原子,

R1、R2、R3和R4相同或不同,分别表示氢原子、羟基、C1~20的直链状、支链状或环状的烷基、C6~20的芳基、C2~10的烯基或C2~10的炔基,所述烷基和芳基可以被C1~6的酰基、C1~6的烷氧基、氨基或羟基取代,并且可以被氧原子或硫原子中断,

R5、R6、R9和R10相同或不同,分别表示氢原子、羟基、C1~6的酰基、C1~6的烷氧基、C1~6的烷氧基羰基、C1~10的直链状、支链状或环状的烷基、C6~20的芳基、C2~20的烯基或C2~10的炔基,所述酰基、烷氧基、烷氧基羰基、烷基、芳基、烯基和炔基可以具有1个或多个选自氨基、硝基、氰基、羟基、缩水甘油基和羧基中的基团,

R7和R8相同或不同,分别表示苯环或萘环,

n和o为0或1。

2.根据权利要求1所述的抗蚀剂下层膜形成用组合物,式(1)的R1、R2、R3或R4为羟基、或可以被羟基取代并且可以被氧原子或硫原子中断的C1~20的直链状、支链状或环状的烷基。

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