[发明专利]使用了芴化合物的抗蚀剂下层膜形成用组合物有效
申请号: | 201880027112.2 | 申请日: | 2018-04-20 |
公开(公告)号: | CN110546570B | 公开(公告)日: | 2023-07-25 |
发明(设计)人: | 德永光;桥本圭祐;坂本力丸 | 申请(专利权)人: | 日产化学株式会社 |
主分类号: | G03F7/11 | 分类号: | G03F7/11;C08G61/12;H01L21/027 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 曾祯;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 使用 化合物 抗蚀剂 下层 形成 组合 | ||
1.一种抗蚀剂下层膜形成用组合物,其包含下述式(1)所示的化合物,
在式(1)中,
表示单键或双键,
X1表示-N(R1)-或-CH(R1)-,
X2表示-N(R2)-或-CH(R2)-,
X3表示-N=、-CH=、-N(R3)-或-CH(R3)-,
X4表示-N=、-CH=、-N(R4)-或-CH(R4)-,
X1、X2、X3、X4的至少一个包含氮原子,
R1、R2、R3和R4相同或不同,分别表示氢原子、羟基、C1~20的直链状、支链状或环状的烷基、C6~20的芳基、C2~10的烯基或C2~10的炔基,所述烷基和芳基可以被C1~6的酰基、C1~6的烷氧基、氨基或羟基取代,并且可以被氧原子或硫原子中断,
R5、R6、R9和R10相同或不同,分别表示氢原子、羟基、C1~6的酰基、C1~6的烷氧基、C1~6的烷氧基羰基、C1~10的直链状、支链状或环状的烷基、C6~20的芳基、C2~20的烯基或C2~10的炔基,所述酰基、烷氧基、烷氧基羰基、烷基、芳基、烯基和炔基可以具有1个或多个选自氨基、硝基、氰基、羟基、缩水甘油基和羧基中的基团,
R7和R8相同或不同,分别表示苯环或萘环,
n和o为0或1。
2.根据权利要求1所述的抗蚀剂下层膜形成用组合物,式(1)的R1、R2、R3或R4为羟基、或可以被羟基取代并且可以被氧原子或硫原子中断的C1~20的直链状、支链状或环状的烷基。
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