[发明专利]适配器的测试方法、装置、设备及存储介质

说明书

一种适配器的测试方法、装置、设备及存储介质，其中，方法包括：检测适配器中器件的温度(S101)；根据适配器中器件的温度判断适配器是否处于温度平衡状态(S102)；如果处于温度平衡状态，则提升适配器所处环境的环境温度(S103)；检测适配器的输出功率，并判断在器件的温度达到第一预设温度阈值之前，适配器是否出现降功率操作(S104)；如果未出现降功率操作，则判断适配器测试失败(S105)。该方法在适配器的测试过程中考虑温度因素，检测适配器是否存在过温保护机制，确保了通过检测后的适配器的安全性和可靠性。

技术领域

本申请涉及电子设备技术领域，尤其涉及一种适配器的测试方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

目前，适配器已经广泛应用于电器设备的充电领域，通过适配器可以将交流电转换为符合用电设备工作的直流电。可以理解，在开发阶段需要对适配器的性能进行测试，以确保适配器在实际使用中符合相关的标准和要求。

相关技术中，对适配器进行测试时，通常是测试适配器的输出电压、电流或者稳定性等参数。然而，申请人发现，影响适配器安全性的因素不仅仅包括输出电压、电流或者稳定性等，还受内部器件功能的影响。而在相关技术中，仅对适配器的输出电压、电流或者稳定性等参数进行测试，缺少对适配器内部功能的检测，例如，适配器中的器件容易受到环境温度的影响，在高温环境下使用适配器的风险要大低温环境，而相关技术中无法检测适配器内部器件在高温环境下的性能，从而增加了适配器在使用时的风险。

申请内容

本申请旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

为此，本申请的第一个目的在于提出一种适配器的测试方法，该方法在适配器的测试过程中考虑温度因素，检测适配器是否存在过温保护机制，即判断适配器中器件的温度达到安全阈值之前适配器是否具有降功率保护操作，来防止适配器在实际使用中因温度过高而损坏，从而确保了通过检测后的适配器的安全性和可靠性。

本申请第二个目的在于提出一种适配器的测试装置。

本申请第三个目的在于提出一种电子设备。

本申请第四个目的在于提出一种计算机可读存储介质。

为了实现上述目的，本申请第一方面实施例提出了一种适配器的测试方法，该方法包括：

检测适配器中器件的温度；

根据适配器中器件的温度判断适配器是否处于温度平衡状态；

如果处于温度平衡状态，则提升适配器所处环境的环境温度；

检测适配器的输出功率，并判断在器件的温度达到第一预设温度阈值之前，适配器是否出现降功率操作；

如果未出现降功率操作，则判断适配器测试失败。

本申请实施例的适配器的测试方法，首先检测适配器中器件的温度，然后根据适配器中器件的温度判断适配器是否处于温度平衡状态，如果处于温度平衡状态，则提升适配器所处环境的环境温度，进而检测适配器的输出功率，并判断在器件的温度达到第一预设温度阈值之前，适配器是否出现降功率操作，如果未出现降功率操作，则判断适配器测试失败。由此，该方法通过判断适配器达到安全温度阈值之前是否具有降功率的保护操作，来检测适配器的过温保护机制，增加了适配器的过温保护测试项目，确保了通过检测后的适配器可以通过减小输出功率来降低温度，从而避免实际使用中因温度过高而损坏适配器，提高了适配器测试的可靠性，且本申请提供的适配器的测试方法可以由适配器自动实现，无需测试人员参与，降低了测试成本。

为了实现上述目的，本申请第二方面实施例提出了一种适配器的测试装置，包括：

温度检测器，用于检测适配器中器件的温度；

功率检测器，用于检测适配器的输出功率；