[发明专利]用于增材制造系统的成像设备以及监测和检查增材制造部件的方法

权利要求书

1.一种增材制造系统，其特征在于，包括：

至少一个成像设备，所述至少一个成像设备被构造为将电磁辐射引向位于所述增材制造系统的粉末床内的部件的构建层；和

多个检测器，所述多个检测器构造成检测从所述构建层反射的所述电磁辐射，其中，所述多个检测器中的每个检测器定位在所述增材制造系统内的不同固定位置处并且相对于所述构建层以不同的角度定位。

2.根据权利要求1所述的增材制造系统，其特征在于，其中所述至少一个成像设备包括至少一个X射线设备，并且所述多个检测器构造成检测反向散射X射线。

3.根据权利要求1所述的增材制造系统，其特征在于，其中所述至少一个成像设备和所述多个检测器位于所述构建层和所述粉末床上方。

4.根据权利要求1所述的增材制造系统，其特征在于，其中，所述多个检测器是数字X射线面板。

5.一种监测在增材制造系统中制造的部件的方法，其特征在于，所述方法包括：

将来自至少一个成像设备的电磁辐射引向位于所述增材制造系统的粉末床内的所述部件的构建层；和

通过多个检测器来检测从所述构建层反射的所述电磁辐射，其中，所述多个检测器中的每个检测器定位在所述增材制造系统内的不同固定位置并且相对于所述构建层以不同的角度定位。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，进一步包括通过所述电磁辐射的反射角来识别所述构建层内的特征。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，其中所述构建层内的所述特征包括在所述构建层内限定的空隙和在所述构建层内限定的裂缝中的至少一个。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，进一步包括确定所述构建层内的所述特征的大小和深度中的至少一个。

9.一种用于与增材制造的部件一起使用的X射线系统，其特征在于，所述X射线系统包括：

至少一个成像设备，所述至少一个成像设备被构造为将电磁辐射引向所述部件，所述至少一个成像设备能够单独定位成邻近所述部件；和

多个检测器，所述多个检测器被构造为检测从所述至少一个成像设备引导的所述电磁辐射，所述多个检测器能够单独定位成邻近所述部件，并且与所述至少一个成像设备的位置对应，使得对所述部件的局部预定区域进行成像，其中，所述多个检测器中的每个检测器定位在增材制造系统内的不同固定位置处并且相对于所述部件以不同的角度定位。

10.根据权利要求9所述的X射线系统，其特征在于，其中所述X射线系统是模块化的。

11.根据权利要求9所述的X射线系统，其特征在于，其中所述X射线系统联接到所述增材制造系统。

12.根据权利要求9所述的X射线系统，其特征在于，其中，所述X射线系统进一步包括联接到所述至少一个成像设备的定位器，并且其中，所述定位器将所述至少一个成像设备单独定位成邻近所述部件。

13.一种检查在增材制造系统中制造的部件的方法，其特征在于，所述方法包括：

将X射线系统定位成邻近所述部件，使得所述部件的局部预定区域被成像，其中所述X射线系统包括至少一个成像设备和多个检测器；

将所述至少一个成像设备单独定位成邻近所述部件；

将所述多个检测器单独定位成邻近所述部件，所述多个检测器对应于所述至少一个成像设备，其中，所述多个检测器中的每个检测器定位在所述增材制造系统内的不同固定位置处并且相对于所述部件以不同的角度定位；

将来自所述至少一个成像设备的电磁辐射引向所述部件；和

通过所述多个检测器来检测来自所述至少一个成像设备的所述电磁辐射。