[实用新型]超滤截流分子量检测辅助装置

说明书

超滤截流分子量检测辅助装置。提供了一种简单、快捷、准确的超滤截流分子量检测辅助装置。从上到下依次设有上盖、罩体以及底座，所述底座内部中空，内部与固定在其上的罩体的内部连通，所述底座的侧面设有出料格林头；所述罩体的底部从上到下依次设有超滤膜片和钛烧结过滤板，所述超滤膜片的上方设有磁子；所述上盖上设有进料口和进气口，所述进料口上设有封盖。本实用新型综合了死端过滤和错流过滤的特点，采用超滤膜表面距离适合位置，加装磁子旋转搅拌的方式，再配合标准设备磁力搅拌器、紫外可见分光光度计的使用，提供了一种适用于实验检测、简单快捷的测量超滤膜的膜孔径的方式。

技术领域

本实用新型涉及超滤膜领域，具体涉及超滤截流分子量检测辅助装置。

背景技术

为了表征超滤膜的膜孔径，比较常用的方法就是截流分子量，用一种已知分子量的物质，来测定超滤膜的孔径，当90%的测定物质被膜所截流，则该物质的分子量为膜的截流分子量。众所周知，超滤膜的常见的过滤方式有两种，一种是死端过滤，另一种是错流过滤。在一般的大专院校、企事业单位实验室条件下，要测量超滤膜的膜孔径，过滤方式采用的都是死端过滤方式，容易在膜表面形成滤饼，导致通量和截流率受到很大的影响，而错流过滤就不会存在这种问题，但是在实验室条件下，很难有条件实现错流过滤。

实用新型内容

本实用新型针对以上问题，提供了一种简单、快捷、准确的超滤截流分子量检测辅助装置。

本实用新型的技术方案是：从上到下依次设有上盖、罩体以及底座，所述底座内部中空，内部与固定在其上的罩体的内部连通，所述底座的侧面设有出料格林头；

所述罩体的底部从上到下依次设有超滤膜片和钛烧结过滤板，所述超滤膜片的上方设有磁子；

所述上盖上设有进料口和进气口，所述进料口上设有封盖。

还包括磁子的支撑结构，所述支撑结构包括：搅拌轴承、搅拌轴承座、搅拌杆、磁子固定座，所述上盖的底面设有一螺纹槽，所述搅拌轴承座的上端外壁适配在该螺纹槽中，所述搅拌轴承的外壁固定在搅拌轴承座中，所述搅拌杆的外壁固定在搅拌轴承的内圈上，所述搅拌杆垂直于底座，所述磁子固定在磁子固定座上。

所述底座上设有若干根罩体的支撑棒，所述支撑棒的底端通过螺纹垂直固定在底座上，所述上盖上设有与各支撑棒对应的通孔，所述支撑棒的顶端通过蝶形紧固螺母将上盖固定。

所述上盖与罩体之间设有氟胶O型圈一，所述超滤膜片的上方设有氟胶O型圈二，所述钛烧结过滤板的下方设有氟胶O型圈三，所述封盖底部设有进料密封硅胶垫。

本实用新型的有益效果是：综合了死端过滤和错流过滤的特点，采用超滤膜表面距离适合位置，加装磁子旋转搅拌的方式，再配合标准设备磁力搅拌器、紫外可见分光光度计的使用，提供了一种适用于实验检测、简单快捷的测量超滤膜的膜孔径的方式。

附图说明

图1是本实用新型的爆炸示意图，

图2是本实用新型的组装图；

图中1是封盖，2是进料密封硅胶垫，3是进料口，4是蝶形紧固螺母，5是进气口，6是上盖，7－1是氟胶O型圈一，7－2是是氟胶O型圈二，7－3是氟胶O型圈三，8是搅拌轴承，9是搅拌轴承座，10是搅拌杆，11是磁子固定座，12是磁子，13是支撑棒，14是出料格林头，15是罩体，16是超滤膜片，17是钛烧结过滤板，18是底座。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作具体说明。

需要说明的是，下面描述中使用的词语“上”和“下”指的是附图1中的方向，词语“底面”和“顶面”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。