[实用新型]薄膜涂层色度分析设备和薄膜涂层分类系统有效
| 申请号： | 201822143468.2 | 申请日： | 2018-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN209513603U | 公开（公告）日： | 2019-10-18 |
| 发明（设计）人： | 唐永炳;周小龙 | 申请（专利权）人： | 深圳先进技术研究院 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 吴乃壮 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 薄膜涂层 色度分析 待测样品 类金刚石薄膜 本实用新型 分类系统 色度计 分光 光源 色度 基材上表面 建立数据库 分类过程 光源设置 夹角为 分类 基材 应用 数据库 便利 生产 | ||
1.一种薄膜涂层色度分析设备，其特征在于，包括分光色度计、光源和待测样品；
所述待测样品包括基材和设置在基材上表面的薄膜涂层；
所述分光色度计和光源设置在待测样品的上方；
所述光源与待测样品的距离为15-35cm；
所述光源的中心点到待测样品的垂足为交点D；
所述光源的中心点到交点D的直线为直线A，所述分光色度计的中心点到交点D的直线为直线B；
所述直线A与直线B的夹角为1-15°。
2.根据权利要求1所述的薄膜涂层色度分析设备，其特征在于，所述色度分析设备还包括样品台，所述待测样品放置在样品台表面；
和/或，所述分光色度计和光源平齐，所述待测样品位于光源正下方；
和/或，所述直线A与直线B的夹角为5-10°。
3.根据权利要求2所述的薄膜涂层色度分析设备，其特征在于，所述直线A与直线B的夹角为10°。
4.根据权利要求1-3任一项所述的薄膜涂层色度分析设备，其特征在于，所述光源为白色LED光源；
和/或，所述分光色度计能够实现CIELAB和/或CIELUV颜色空间测试要求。
5.根据权利要求1-3任一项所述的薄膜涂层色度分析设备，其特征在于，所述基材包括单晶硅、石英、透明导电玻璃或硬质合金中的至少一种。
6.根据权利要求5所述的薄膜涂层色度分析设备，其特征在于，所述基材包括单晶硅。
7.根据权利要求1-3任一项所述的薄膜涂层色度分析设备，其特征在于，所述薄膜涂层的粗糙度小于10nm，所述薄膜涂层的厚度为20-3000nm；
和/或，所述薄膜涂层包括无机非金属薄膜。
8.根据权利要求7所述的薄膜涂层色度分析设备，其特征在于，所述薄膜涂层包括类金刚石薄膜或钻石薄膜。
9.根据权利要求8所述的薄膜涂层色度分析设备，其特征在于，所述薄膜涂层包括类金刚石薄膜。
10.一种薄膜涂层分类系统，其特征在于，包括权利要求1-9任一项所述的薄膜涂层色度分析设备。
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