[实用新型]一种射频天线驻波自检测系统有效
申请号: | 201821770107.4 | 申请日: | 2018-10-30 |
公开(公告)号: | CN209356587U | 公开(公告)日: | 2019-09-06 |
发明(设计)人: | 陈俊杰;权振;王子恺 | 申请(专利权)人: | 南京比邻智能识别技术有限公司 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08;G01R27/06;G01R29/10 |
代理公司: | 南京禾易知识产权代理有限公司 32320 | 代理人: | 仇波 |
地址: | 210000 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 采样芯片 耦合器 功率放大器 对数检波 衰减器 自检测系统 发射功率 匹配网络 射频天线 依次相连 调制器 驻波 天线 环境温度变化 本实用新型 连接处理器 发射链路 回波检测 连接耦合 驱动放大 天线状态 误判断 处理器 链路 射频 检测 | ||
本实用新型涉及一种射频天线驻波自检测系统,包括调制器、功率放大器、耦合器、处理器、天线,衰减器、对数检波管,ADC采样芯片,所述调制器通过驱动放大链路匹配网络连接功率放大器,所述功率放大器连接耦合器,所述耦合器通过发射链路匹配网络连接天线,所述耦合器、第一衰减器、第一对数检波管、第一ADC采样芯片依次相连,所述耦合器、第二衰减器、第二对数检波管、第二ADC采样芯片依次相连,所述第一ADC采样芯片和第二ADC采样芯片连接处理器。通过增加对比发射功率的检测,可避免因发射功率的变化出现误判断的现象,同时,充分考虑环境温度变化所带来的影响,提高射频回波检测精度,在天线状态的判断上更具有高精度和可靠性。
技术领域
本实用新型涉及射频识别技术领域,尤其涉及一种射频天线驻波自检测系统。
背景技术
射频领域内,射频设备的驻波一般由天线的质量决定,天线的好坏,状态都直接影响超高频射频设备的性能,甚至是损坏超高频射频设备。天线的常规参数有驻波,增益,方向。由于增益和方向无法直接通过超高频设备自身进行检测,而驻波又直接决定超高频设备的性能,所以对于超高频射频设备而言,检测天线状态尤为重要。
限制于环境体积因素对射频天线驻波检测误差较大的因素主要在于:环境温度变化,对元器件的测量精度影响;部分元器件体积重量较大,在设备中占有较大的体积,直接影响射频设备的尺寸;受元器件体积重量较大的影响,在生产工艺中,对焊接工艺影响较大,会带来一致性不稳定,会造成相同天线不同设备测量结果误差较大的情况。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种射频天线驻波自检测系统,通过对比计算的检测方法,精准计算天线回波功率,从而达到准确判断天线状态的目的。
为实现上述目的,本实用新型的技术方案如下:
一种射频天线驻波自检测系统,包括调制器、功率放大器、耦合器、衰减器、对数检波管、ADC采样芯片、处理器和天线,所述衰减器包括第一衰减器和第二衰减器,所述对数检波管包括第一对数检波管和第二对数检波管,所述ADC采样芯片包括第一ADC采样芯片和第二ADC采样芯片,所述调制器通过驱动放大链路匹配网络连接功率放大器,所述功率放大器连接耦合器,所述耦合器通过发射链路匹配网络连接天线,所述耦合器、第一衰减器、第一对数检波管、第一ADC采样芯片依次相连,所述耦合器、第二衰减器、第二对数检波管、第二ADC采样芯片依次相连,所述第一ADC采样芯片和第二ADC采样芯片连接处理器。
上述方案中,所述耦合器选用10dB的耦合器,在发射链路中,功率放大器经耦合器至第一衰减器为10dB的衰减,功率放大器经耦合器至第二衰减器为30dB的衰减;在反射链路中,天线通过发射链路匹配网络经耦合器至第一衰减器为30dB的衰减,天线通过发射链路匹配网络经耦合器至第二衰减器为10dB的衰减。
上述方案中,所述调制器用于射频信号的发射并将射频频率控制在840M~960M。
上述方案中,所述第一对数检波管和第二对数检波管为同一型号的线性检波管,包括发射功率检波管和回波功率检波管。
本实用新型的射频回波自检测系统,通过增加对比发射功率的检测,可避免因发射功率的变化出现误判断的现象,同时,充分考虑环境温度变化所带来的影响,提高射频回波检测精度,在天线状态的判断上更具有高精度和可靠性。
附图说明
图1是本实用新型一实施例中射频天线驻波自检测系统的结构框图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。
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