[实用新型]一种ACT-90E-C-C一体治具盒有效

专利信息
申请号: 201821693999.2 申请日: 2018-10-19
公开(公告)号: CN209117726U 公开(公告)日: 2019-07-16
发明(设计)人: 刘鑫;宋培和;禹怀飞;陶勇;郑孝荣;梁鑫 申请(专利权)人: 安徽省中测电子科技有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 代理人: 陈娟
地址: 243000 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 上壳体 下壳体 散热口 测试治具 治具盒 本实用新型 安装孔 上表面 上壳体上表面 测试效果 两端对称 内部连通 散热效果 使用寿命 外壁中部 位置对称 位置间隔 左右两侧 上端 拆装 滤网 外壁 对称 贯穿 外部
【说明书】:

实用新型公开了一种ACT‑90E‑C‑C一体治具盒,包括上壳体和下壳体,所述上壳体卡设在下壳体的外部,所述上壳体前后两侧的外壁下端的位置间隔开设有第一安装孔,所述第一安装孔贯穿下壳体且与下壳体的内部连通,所述上壳体的上表面的左侧上端的位置安装有第一TYPE‑C测试治具板,所述上壳体的上表面的右侧且与第一TYPE‑C测试治具板对称的位置安装有第二TYPE‑C测试治具板,所述上壳体上表面的左右两端对称开设有第一散热口,所述下壳体左右两侧的外壁中部的位置对称开设有第二散热口,所述第一散热口和第二散热口的内部均固定连接有滤网,本实用新型达到了拆装简单、测试效果好、散热效果好的目的,延长了治具盒的使用寿命。

技术领域

本实用新型涉及治具盒技术领域,具体为一种ACT-90E-C-C一体治具盒。

背景技术

在新一代的线材测试中,由于要测试读取芯片和压降测试的功能,之前的测试治具是由多个连接器的测试治具构成,在操作的时候不太方便,而且由于多个测试治具测试造成误差问题较大,也由于多个测试治具安装和摆放的不连贯性,急需要一体性较好的测试治具进行测试。

现有的治具盒不方便拆装,不方便后期的维修,增加了维修成本,现有的治具盒只能同时对一个母板进行检测,工作效率低,当壳体内部的主板和电气元件工作时,会产生热量,热量不能及时散热的话,热量堆积会对电气元件和测试治具板造成一定的损伤,缩短了治具盒的使用寿命。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足,本实用新型提供了一种ACT-90E-C-C一体治具盒,解决了不方便拆装、测试效果差、散热效果差的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的,本实用新型通过以下技术方案予以实现:一种ACT-90E-C-C一体治具盒,包括上壳体和下壳体,所述上壳体卡设在下壳体的外部,所述上壳体前后两侧的外壁下端的位置间隔开设有第一安装孔,所述第一安装孔贯穿下壳体且与下壳体的内部连通,所述上壳体的上表面的左侧上端的位置安装有第一TYPE-C测试治具板,所述上壳体的上表面的右侧且与第一TYPE-C测试治具板对称的位置安装有第二TYPE-C测试治具板,所述上壳体的上表面且位于第一TYPE-C测试治具板的下端左右两侧的位置对称安装有第一连接器,所述上壳体的上表面且位于第二TYPE-C测试治具板的下端左右两侧的位置对称安装有第二连接器,所述上壳体上表面的左右两端对称开设有第一散热口,所述下壳体左右两侧的外壁中部的位置对称开设有第二散热口,所述第一散热口和第二散热口的内部均固定连接有滤网。

优选的,所述上壳体的截面和下壳体的截面均呈凹槽状,且所述上壳体的宽度大于下壳体的宽度。

优选的,所述上壳体背部的左侧上端的位置开设有第一压降测试接口,所述上壳体的背部且位于第一压降测试接口右侧的位置开设有第一TYPE-C回路测试接口,所述上壳体的背部右侧的位置且与第一TYPE-C回路测试接口对称开设有第二TYPE-C回路测试接口,所述上壳体背部右侧的上端且与第一压降测试接口对称的位置开设有第二压降测试接口。

优选的,所述第一压降测试接口、第一TYPE-C回路测试接口、第二TYPE-C回路测试接口和第二压降测试接口均贯穿下壳体且与下壳体的内部连通。

优选的,所述第一TYPE-C测试治具板上表面的上端的左右两侧和第二TYPE-C测试治具板上表面的上端的左右两侧均对称开设有第二安装孔,所述第一安装孔的内壁和第二安装孔的内壁均进行螺纹打磨,所述第一连接器和第二连接器均采用排母。

(三)有益效果

本实用新型提供了一种ACT-90E-C-C一体治具盒。具备以下有益效果:

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