[实用新型]一种便于ESD测试VGA接口的接插件

说明书

本实用新型公开了一种便于ESD测试VGA接口的接插件，包括一VGA接口的公头，所述VGA接口的公头的背部设置有一支架，所述支架的第一端固定在公头的背部，第二端设置有一与公头的背部平行的平面滑轨，所述滑轨上设置有一能够在其上滑动的移动pin针连接器，所述移动pin针连接器上设置有一与静电枪枪头适配的圆锥形腔，所述圆锥形腔的顶端处设置有一连接pin针，所述连接pin针的一端延伸出所述圆锥形腔的顶端适当长度，另一端延伸穿透所述移动pin针连接器并延伸出适当长度。本实用新型通过支架避免了内部导电脚断裂；通过设置移动pin针连接器大大提高效率，节省了测试人员的体力。

技术领域

本实用新型涉及一种VGA接口的接插件，特别是一种便于ESD测试VGA接口的接插件，属于电子产品测试技术领域。

背景技术

ESD测试，即静电放电测试，分为contact测试和air测试。其中，contact 测试指的是针对待测物金属裸露部分直接接触进行测试，而air测试指的是在待测物不与金属直接接触的地方(例如隔了一层塑料)将静电枪直接压在待测物上测试。本实用新型中涉及到的是contact测试。

在针对电视机、电脑、显示器等设备的contact测试中，需要对含有VGA 接口的每个pin针进行放电测试。但是，由于VGA接口的母头是内嵌在机器机身上的，所有的pin针都在内凹的槽中，且pin针很细小，各个pin针之间的距离很近，因此静电枪不容易进行contact测试，测试人员想要进行放电测试，传统的方法是利用铜导线搭接到每个pin针上，或者将独立pin针插入接口使接口延长，再用静电枪对铜导线或独立pin针进行放电测试。

但是，采用上述方法具有各种弊端：第一，无法保证延长线和每个接口完好搭接，可能造成ESD的骚扰信号无法正确传输，从而无法保证试验的可靠性；第二，延长出来的导线非常细，可能造成试验未完成就已经折断；第三，测试标准中要求对每根pin针反复进行多次试验，由于静电枪枪身很重，测试人员无法提起静电枪对细小的针头长时间放电，体力难以支撑。

实用新型内容

为了解决现有技术中存在的上述不足，本实用新型提出了一种便于ESD测试VGA接口的接插件，其能够延长VGA接口，且能够固定静电枪头，通过调节位置对每个pin针进行测试，有效地保证了试验的可靠性。

为了实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种便于ESD测试VGA接口的接插件，包括一VGA接口的公头，所述VGA 接口的公头的背部设置有一支架，所述支架的第一端固定在公头的背部，所述支架的与第一端相反的第二端设置有一与公头的背部平行的平面滑轨，所述平面滑轨的轨道在平面方向上沿VGA接口的pin针走向的路径延伸，在垂直于平面滑轨的纵向方向上从第二端延伸至第一端穿透整个支架，所述轨道上设置有一能够在其上滑动的移动pin针连接器，所述移动pin针连接器在垂直于平面滑轨的方向上设置有向其内部延伸的与静电枪枪头适配的圆锥形腔，所述圆锥形腔的顶端处设置有一连接pin针，所述连接pin针的一端延伸出所述圆锥形腔的顶端适当长度，另一端延伸穿透所述移动pin针连接器并延伸出适当长度。

作为对上述技术方案的改进，所述支架为绝缘材料制成。

作为对上述技术方案的进一步改进，所述支架为陶瓷材料制成。

作为对上述技术方案的改进，所述支架的第一端的端面上设置有一略大于所述VGA接口的公头的背部轮廓的开口，所述VGA接口的公头卡扣在所述支架上。

作为对上述技术方案的改进，所述支架的第一端的开口内部设置有一略小于所述VGA接口的公头的背部轮廓的凸台，当所述VGA接口的公头卡扣进所述支架的开口内时，用于抵住公头，防止过度插入。

作为对上述技术方案的进一步改进，所述支架为中空结构，其第一端卡扣所述VGA接口的公头的背部，第二端的平面滑轨为一薄片结构。