[实用新型]一种K系数测试装置有效
申请号: | 201821625897.7 | 申请日: | 2018-10-08 |
公开(公告)号: | CN208921831U | 公开(公告)日: | 2019-05-31 |
发明(设计)人: | 胡久恒 | 申请(专利权)人: | 杭州高坤电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
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地址: | 311122 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 老化板 系数测试 高温箱 工控机 工位 系数测试装置 本实用新型 独立检测 金手指 操作台 键盘鼠标操作 工作效率高 信号线连接 测试方式 测试环境 多个器件 键盘鼠标 实时测量 温度均匀 箱顶部 转接板 走线 显示屏 测量 | ||
本实用新型公开了一种K系数测试装置,包括恒温高温箱、安装在恒温高温箱内部的老化板、固定在恒温高温箱顶部的K系数测试机、固定在K系数测试箱顶部的工控机、安装在工控机顶部的键盘鼠标操作台和固定在键盘鼠标操作台上的显示屏,老化板上设有多个独立检测工位,恒温高温箱内设有与老化板对接的对接金手指,所述对接金手指引线到K系数测试机的转接板上,所述K系数测试机通过信号线连接工控机,所述老化板上每个工位均为开尔文测试方式走线。本实用新型结构简单,操作方便,使用成本低,而且在老化板上设计多个独立检测工位,可同时对多个器件实时测量K系数,工作效率高,测试环境温度均匀,并且通过开尔文方式测量Vf,使数据更加准确。
技术领域
本实用新型涉及一种器件测试设备,尤其涉及一种K系数测试装置。
背景技术
由于现代电路设计要求越来越高,电路设计工程师对每一个元器件的温度,功率都提出了新的要求,在这种情况下,结合测试工作,我们发现越来越多的二极管生产企业对产品的K系数即温度系数的测量提出了要求。
二极管的K系数它用来表示二极管在PN结温度升高的条件下导通电压Vf的变化情况。从对企业的调查和了解可以发现,大多数企业对于这一参数并不是十分了解,专用的测量仪器比较昂贵而且数量稀少,只有少数台资厂从台湾专门购置了设备用于该参数的测量,从而使得产品的参数在面对客户时有了更强的竞争力这一点也促使其竞争对手对K系数的测量有了更强的需求。经过试验可以发现,二极管的结温与其导通电压是呈线性关系的,其比值可以用K来表示。由于无法直接测量到二极管内部温度,在实际测试中,只能通过改变环境温度,用环境温度的变化来模拟结温的变化情况,经过多个温度点下对导通电压进行测量,得出结论二极管的导通电压与PN结的温度成反比关系:
K=|(V2-V1)/(T2-T1)|。
现有技术的缺点:目前市面上常规的K系数测试装置数据采样速度慢且不够直观,测量数量少,环境温度不够均衡,影响试验效果等等。
实用新型内容
本实用新型为了解决上述现有技术中存在的缺陷和不足,提供了一种操作简单,可同时对多个器件实时测量K系数,工作效率高,测试环境温度均匀,并且通过开尔文方式测量Vf,使数据更加准确的K 系数测试装置。
本实用新型的技术方案:一种K系数测试装置,包括恒温高温箱、安装在恒温高温箱内部的老化板、固定在恒温高温箱顶部的K系数测试机、固定在K系数测试箱顶部的工控机、安装在工控机顶部的键盘鼠标操作台和固定在键盘鼠标操作台上的显示屏,所述老化板上设有多个独立检测工位,所述恒温高温箱内设有与老化板对接的对接金手指,所述对接金手指引线到K系数测试机的转接板上,所述K系数测试机通过信号线连接工控机,所述老化板上每个工位均为开尔文测试方式走线。
本实用新型结构简单,采用对接金手指对接老化板和恒温高温箱,操作方便,使用成本低,而且在老化板上设计多个独立检测工位,可同时对多个器件实时测量K系数,工作效率高,测试环境温度均匀,并且通过开尔文方式测量Vf,使数据更加准确。
优选地,所述老化板上有12个独立检测工位,待测器件按照滑板丝印方向插在老化板上。
该种结构方便待测器件的安装,确保待测器件的安装稳固性和测试精确性。
优选地,所述恒温高温箱上设有恒温高温箱门和恒温高温箱操作面板。
该种结构方便对恒温高温箱的操作。
优选地,所述显示屏通过显示屏支架安装在键盘鼠标操作台上,所述显示屏支架转动连接在键盘鼠标操作台上。
该种结构确保显示屏的安装牢固度,同时可以适当的转动显示屏的方向,方便从多个角度观察显示屏内的内容。
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