[实用新型]一种用于植物根际环境研究的根箱试验装置

说明书

本实用新型提供了一种用于植物根际环境研究的根箱试验装置，其包括位于上部的根箱生长室、位于下部的土壤取样室及位于所述根箱生长室和所述土壤取样室之间的尼龙网隔层，尼龙网隔层覆盖所述根箱生长室靠近所述土壤取样室的开口端且与所述根箱生长室固定连接，所述土壤取样室包括两端开口的取样室壳体及部分收容于所述取样室壳体内的推土器，所述取样室壳体的外壁设置有毫米刻度，所述推土器包括封闭所述取样室壳体远离所述根箱生长室的开口的主体部、自所述主体部向远离所述根箱生长室一端延伸的推送部及开设于所述主体部的排水孔，所述推土器能够沿所述取样室壳体的延伸方向往复运动。本实用新型提供的用根箱试验装置模拟试验结果更加准确。

【技术领域】

本实用新型涉及一种植物根系培养技术领域，尤其涉及一种用于植物根际环境研究的根箱试验装置。

【背景技术】

根际是作物根系和土壤进行养分和能量交换的重要区域，是土壤微生物最活跃的场所，是受作物根系生长的影响，同时又影响作物养分的吸收与转运的特定区域。因此，根际微域一直是国内外土壤学、植物营养学、农学等多学科研究的焦点之一。

对于根际土壤的取样方法，已有较多研究。传统的方法仍以抖动分离法为主，这种方法由于受到土壤类型、湿度以及植物根系种类等条件的影响响，其取样的范围很难控制，在取样精确度方面存在很大的缺陷，而且取样时间长，并且容易造成部分根系组织的残留，从而影响到根际土壤养分转化和微生物特征的分析测定，导致研究结果缺乏准确性。另外，由于没有办法对距根不同层次的土壤进行区分，根际过程的距离梯度效应也无法进行研究。也有人采用冷却切片法，然此法切片厚度不易控制，且切片时会对土体产生挤压变形，同时速冻过程会改变土体中的养分状况及微生物活性。

申请号为CN201110006140.6和CN201010533303.1的专利申请均针对上述技术问题开发了新的根箱试验装置，但是在上述根箱试验装置中，根系只能向一个方向伸长，不符合真实的生长环境。申请号为201810055474.7 公开的根箱试验装置能够模拟真实的生长环境，但存在根际土壤取样不易控制的缺陷。

因此，实有必要提供一种改进的根箱试验装置以解决上述问题。

【实用新型内容】

本实用新型的目的是克服上述技术问题，本实用新型提供一种模拟试验研究结果更加准确的根箱试验装置。

为了实现上述目的，本实用新型提供一种用于植物根际环境研究的根箱试验装置，其包括位于上部的根箱生长室、位于下部且与所述根箱生长室可拆卸连接的土壤取样室及用于隔开所述根箱生长室和所述土壤取样室的尼龙网隔层，所述尼龙网隔层覆盖所述根箱生长室靠近所述土壤取样室的开口端且与所述根箱生长室固定连接，所述土壤取样室包括两端开口的取样室壳体及部分收容于所述取样室壳体内的推土器，所述取样室壳体的外壁设置有毫米刻度，所述推土器包括封闭所述取样室壳体远离所述根箱生长室的开口的主体部、自所述主体部向远离所述根箱生长室一端延伸的推送部及开设于所述主体部的排水孔，所述推土器能够沿所述取样室壳体的延伸方向往复运动。

优选地，所述根箱试验装置还包括具收容空间的支座，所述土壤取样室部分收容于所述收容空间内，且与水平面呈30°～60°倾斜设置。

优选地，所述支座包括具顶壁的底座、自所述顶壁向上延伸的支座壳体及自所述顶壁向内凹陷形成的与所述推送部匹配的安装部，所述顶壁和所述支座壳体共同围成所述支座的收容空间，所述主体部与所述顶壁抵接，且所述顶壁与水平面呈30°～60°倾斜设置，所述推送部收容于所述安装部内。

优选地，所述底座还包括容纳空间，所述顶壁包括连通所述排水孔与所述容纳空间的通孔。

优选地，所述取样室壳体远离所述根箱生长室的一端的内壁设置有多组软胶凸起部，多组所述软胶凸起部沿所述取样室壳体的延伸方向均匀间隔设置。