[实用新型]一种结构微振动线域测量装置有效
申请号: | 201821545013.7 | 申请日: | 2018-09-21 |
公开(公告)号: | CN208833364U | 公开(公告)日: | 2019-05-07 |
发明(设计)人: | 钟舜聪;方波;沈耀春;钟剑锋 | 申请(专利权)人: | 福州大学 |
主分类号: | G01H9/00 | 分类号: | G01H9/00 |
代理公司: | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人: | 蔡学俊 |
地址: | 350108 福建省福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 微振动 柱透镜 本实用新型 反射式光栅 测量装置 面阵 相机 迈克尔逊干涉仪 二维干涉条纹 平行光束聚焦 汇聚 非接触测量 光谱仪模块 结构件表面 卤素灯光源 二维振动 干涉光束 平行光束 振动探测 参考光 参考镜 反射镜 分光镜 干涉谱 探测光 波长 重合 出射 二维 分光 分束 焦线 反射 相等 测量 采集 干涉 | ||
1.一种结构微振动线域测量装置,其特征在于,包括
钨卤素灯光源模块,包括钨卤素灯光源、凸透镜,钨卤素灯光源发射的点光源经凸透镜准直为平行光束,用于振动探测;
迈克尔逊干涉仪模块,包括第一柱透镜、分光镜、参考镜、第二柱透镜,第一柱透镜将平行光束聚焦为焦线,分光镜将光束分束为强度相等的两束光线,一束作为参考光汇聚于参考镜,另一束作为探测光汇聚于待测微振动结构件表面,两束光经反射后重合发生干涉,并经第二柱透镜变为平行光束出射至二维光谱仪模块;
二维光谱仪模块,包括反射镜、反射式光栅、第三柱透镜、面阵高速COMS相机,干涉光束经反射式光栅按波长在空间分光后由第三柱透镜汇聚成干涉谱线,由面阵高速COMS相机采集获得二维干涉条纹,由此即可获得线域二维振动信息。
2.根据权利要求1所述的一种结构微振动线域测量装置,其特征在于,二维光谱仪模块获取的二维干涉条纹通过计算机处理,即可获得线域二维振动信息。
3.根据权利要求1所述的一种结构微振动线域测量装置,其特征在于,还包括一单频激光光源、一第二分光镜;所述第二分光镜设于第二柱透镜与反射镜之间,所述单频激光光源发射的激光发射至第二分光镜一入光口。
4.根据权利要求3所述的一种结构微振动线域测量装置,其特征在于,所述单频激光光源、第二分光镜用于为整个装置标定引入波长已知的特征谱线。
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