[实用新型]一种用于全自动检测型熔点仪的光检测结构

说明书

本实用新型公开了一种用于全自动检测型熔点仪的光检测结构，包括炉芯，所述炉芯设置有测试槽，所述测试槽一侧设置有导光孔，所述测试槽另一侧设置有光源，所述炉芯一侧设置有遮光罩，所述遮光罩一侧设置有光纤定位孔，所述导光孔一侧设置有第二凹槽。本实用新型通过设置有测试槽、光源、导光孔、光纤和光电元件，测试槽用来放置被测样品，光源提供光并通过测试槽内的样品，经一侧的导光孔与光纤相接触，最终通过光纤将光导向光电元件的光敏面，有利于克服了全自动型熔点检测系统内点光源发散角度造成的传播损失，提高了检测的效率，使检测结果不受环境光影响的特点，提高测量的可靠性。

技术领域

本实用新型涉及金属浴导热原理的全自动检测型熔点仪领域，特别涉及一种用于全自动检测型熔点仪的光检测结构。

背景技术

熔点仪是测量晶体颗粒物熔化温度点或熔化温度范围的室内型快速高效专业检测分析仪器，被广泛应用于化工、医药、食品、研究、教育等众多领域，能够实现检测物质纯度、研究材料特性等功能。随着科技的进步逐渐出现了全自动检测型熔点仪代替原先的半自动检测和手动检测方式。

全自动检测型熔点仪的传统检测原理是在被测样品正前方的一颗面阵摄像头捕捉样品熔化过程的画面，在被测样品升至最高可达400℃的条件下，通过判断熔化过程中被测样品的颜色变化推测其熔点值。由于被测样品被升至高温，这种检测原理中面阵摄像头无法接近高温部件，迫使面阵摄像头的感光部位与被测样品相互隔开并暴露在环境中，无法做遮蔽环境光处理，环境光的变化对测量结果将会产生很大影响。同时这种检测原理针对颜色变化不明显的被测样品不能得到准确的测量结果

因此，发明一种用于全自动检测型熔点仪的光检测结构来解决上述问题很有必要。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于全自动检测型熔点仪的光检测结构，通过设置有测试槽、光源、导光孔、光纤和光电元件，测试槽用来放置被测样品，光源提供光并通过测试槽内的样品，经一侧的导光孔与光纤相接触，最终通过光纤将光导向光电元件的光敏面，有利于克服了全自动型熔点检测系统内点光源发散角度造成的传播损失，提高了检测的效率，通过设置有遮光罩，可以遮挡住光电元件的感光面，对周围环境中的干扰杂光进行遮挡，有利于使检测结果不受环境光影响的特点，提高测量的可靠性，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于全自动检测型熔点仪的光检测结构，包括炉芯，所述炉芯设置有测试槽，所述测试槽一侧设置有导光孔，所述测试槽另一侧设置有光源，所述炉芯一侧设置有遮光罩，所述遮光罩一侧设置有光纤定位孔，所述导光孔一侧设置有第二凹槽，所述光纤定位孔与第二凹槽之间设置有光纤，所述遮光罩另一侧设置有安置槽，所述安置槽内部设有光电元件。

优选的，所述光纤形状设置为条状，所述光纤一端贯穿光纤定位孔并与光电元件的光敏面相接触。

优选的，所述光纤另一端与导光孔相接触。

优选的，所述光电元件与安置槽相配合。

本实用新型的技术效果和优点：

1、通过设有测试槽、光源、导光孔、光纤和光电元件，测试槽用来放置被测样品，光源提供光并通过测试槽内的样品，经一侧的导光孔与光纤相接触，最终通过光纤将光导向光电元件的光敏面，有利于克服了全自动型熔点检测系统内光源发散角度造成的传播损失，提高了检测的效率，通过设置有遮光罩，可以遮挡住光电元件的感光面，对周围环境中的干扰杂光进行遮挡，有利于使检测结果不受环境光影响的特点，提高测量的可靠性，本装置结构简单，成本低，对比现有的装置，可以最大化的检测到被测样品的颜色变化，检测结果准确率高。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构正视图。

图中：1炉芯、2测试槽、3导光孔、4光源、5遮光罩、6光纤定位孔、7第二凹槽、8光纤、9安置槽、10光电元件。