[实用新型]一种测试MESH框好坏的设备有效

专利信息
申请号: 201821403091.3 申请日: 2018-08-29
公开(公告)号: CN208833855U 公开(公告)日: 2019-05-07
发明(设计)人: 李景润;郑修武;张俊华;江彬 申请(专利权)人: 福建新大陆支付技术有限公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02
代理公司: 福州元创专利商标代理有限公司 35100 代理人: 蔡学俊
地址: 350015 福建省福*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
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【说明书】:

本实用新型提出一种测试MESH框好坏的设备,所述设备包括控制模块、底座、MESH框限位机构、下压托盘、测试模块;所述MESH框限位机构设于底座上端面;所述测试模块包括底座上的电路板和下压托盘下部的测试顶针;当待测试的MESH框被MESH框限位机构限位固定,下压托盘下移至测试作业位时,测试模块的电路板与MESH框的第一测试位相接;下压托盘的测试顶针与MESH框的第二测试位相接,使测试顶针、MESH框和测试模块的电路板之间形成MESH框测试回路;本实用新型通用性强,可以对MESH框进行半自动测试。

技术领域

本实用新型涉及测试设备技术领域,尤其是一种测试MESH框好坏的设备。

背景技术

在目前,MESH框的物料检验领域,多采用人工目测或者用万用表简单测试方案,而原厂的MESH框测试设备价格昂贵,这就造成测试效率低且不能完全筛查出不良品,导致生产周期变成,成本提高等不利因素,为了实现高效的半自动化测试,就要求一种通用性强,可以半自动测试MESH框的方案。

发明内容

本实用新型提出一种测试MESH框好坏的设备,通用性强,可以对MESH框进行半自动测试。

本实用新型采用以下技术方案。

一种测试MESH框好坏的设备,所述设备包括控制模块、底座、MESH框限位机构、下压托盘、测试模块;所述MESH框限位机构设于底座上端面;所述测试模块包括底座上的电路板和下压托盘下部的测试顶针;当待测试的MESH框被MESH框限位机构限位固定,下压托盘下移至测试作业位时,测试模块的电路板与MESH框的第一测试位相接;下压托盘的测试顶针与MESH框的第二测试位相接,使测试顶针、MESH框和测试模块的电路板之间形成MESH框测试回路。

所述MESH框测试回路内包括电阻表、电流表和高压输出设备。

所述设备对MESH框的测试作业包括框内线路断路测试和框内线路短路测试。

当所述设备进行框内线路断路测试时,所述电阻表与MESH框内被测试线的两个测试点相接,当电阻表测知的两测试点间电阻值大于阈值时,所述测试模块提示线路断路。

当所述设备进行框内线路短路测试时,所述高压输出设备与电流表相连形成高压测试机构,所述高压测试机构与MESH框内被测试位的两个测试点相接形成高压测试回路并输出高电压,当电流表测知的两测试点间的漏电电流大于阈值时,所述测试模块提示线路短路。

所述MESH框由人工放入MESH框限位机构,当下压托盘下移至测试作业位时,测试模块启动测试作业。

所述测试模块还包括用于显示测试结果的LED指示灯。

所述底座上端面处设有竖向的支架,所述支架处设有电流表安装位和电压表安装位。

本实用新型由于能对MESH框进行半自动测试,测试效率高,而且通过更换不同的MESH框限位机构、下压托盘,可以适配多种MESH框进行测试,具备较强的通用性,从而解决了大批量生产中MESH框测试效率低,以及因MESH框不良而造成返工和客诉等传统制造问题。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本发明进一步详细的说明:

附图1是本实用新型的示意图;

附图2是本实用新型的原理示意图;

附图3是本实用新型的另一原理示意图;

附图4是本实用新型的部分电路示意图;

附图5是本实用新型的另一部分电路示意图;

图中:1-底座;2-测试顶针;3-下压托盘;4-MESH框;5-MESH框限位机构;6-电流表安装位;7-电压表安装位。

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