[实用新型]一种紫外可见分光设备

说明书

本实用新型公开了一种紫外可见分光设备，属于光度计技术领域，存在暗箱的内部空间有限，当进行大型的样品，如玻璃等物体的测量时，样品无法通过接放置到暗箱中进行测量，降低了紫外可见光光度计的适应性技术问题，其技术方案要点是包括带有暗箱的紫外可见光光度计，暗箱中设置有光束发射装置，所述紫外可见光光度计罩设有遮光架，遮光架中设置有底架，底架靠近暗箱的一侧连接有反射架和折回架，反射架和折回架之间存在有检测间隙，反射架固定连接有反射镜，折回架固定连接有折回镜，反射镜与折回镜互相垂直，反射镜与紫外可见光光度计之间的夹角和折回镜与紫外可见光光度计之间的夹角均为四十五度，达到了提高紫外可见光光度计的适应性的效果。

技术领域

本实用新型涉及一种光度计领域，特别涉及一种紫外可见分光设备。

背景技术

紫外可见光光度计是一种应用很广的分析仪器，主要用于进行玻璃制品的定性分析、纯度检查、结构分析等方面。

紫外可见光光度计结构包括箱体，箱体上分别设置有暗箱、控制板和显示面板，暗箱中设置有发生光束发射装置。在进行测试时，使用者先将暗箱打开，将需要进行测量的样品放置到暗箱中，然后，暗箱中的光束发射装置发出光束，光束穿过样品后，紫外可见光光度计根据光束得出测量数据。

但是，由于暗箱的内部空间有限，当进行大型的样品，如玻璃等物体的测量时，样品无法通过接放置到暗箱中进行测量，降低了紫外可见光光度计的适应性。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的是提供一种紫外可见分光设备，达到提高紫外可见光光度计的适应性的效果。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种紫外可见分光设备，包括带有暗箱的紫外可见光光度计，暗箱中设置有光束发射装置，所述紫外可见光光度计罩设有遮光架，遮光架中设置有底架，底架靠近暗箱的一侧连接有反射架和折回架，反射架和折回架之间存在有检测间隙，反射架固定连接有反射镜，折回架固定连接有折回镜，反射镜与折回镜互相垂直，反射镜与紫外可见光光度计之间的夹角和折回镜与紫外可见光光度计之间的夹角相等均为四十五度。

通过上述技术方案，当需要进行测量无法放置到暗箱中的玻璃样品时，先将遮光架罩在紫外可见光光度计外侧上，使紫外可见光光度计处于无光的黑暗环境中，然后，将暗箱打开，使暗箱中的光束发射装置发出的光束对准同时水平的照射在反射镜上，保证光束的入射角度为四十五度，然后，光束在反射镜的反射作用下，将光束反射至与反射镜垂直的折回镜上，再通过折回镜将光束折回到紫外可见光光度计中，形成闭合的光路，光路形成完成后，使用者将需要进行测量的样品放置到反射镜和折回镜之间的检测间隙之间，使光路穿过样品即可，能够使紫外可见光光度计采集到检测数据同时进行分析，完成了对于无法放置到暗箱中的样品的测量，提高了紫外可见光光度计对于各种样品的适用性，达到提高紫外可见光光度计的适应性的效果。

较佳的，所述底架设置有持物架，持物架固定连接有支撑横梁，持物架与底架之间设有调节组件。

通过上述技术方案，进行测量的过程时，使用者直接将样品通放置在玻璃板上，然后通过调节组件滑移调节持物架与检测间隙之间的距离，代替了使用者把持样品，减轻了使用者的劳动强度，提高了紫外可见光光度计使用时的便捷性。

较佳的，所述调节组件包括架设在底架的横移滑轨，横移滑轨滑动连接有横移架，横移滑轨朝向紫外可见光光度计；横移架的顶面架设有纵移滑轨，纵移滑轨垂直于横移滑轨，纵移滑轨滑动连接有纵移架，持物架固定连接在纵移架顶面上。

通过上述技术方案，设置的横移滑轨和纵移滑轨实现了持物架整体的两个自由度的调节运动，提高了持物架的使用适应性，从而提高了紫外可见光光度计的适应性。

较佳的，所述持物架靠近紫外可见光光度计的侧面滑动连接有前探杆，前探杆固定连接有定位夹具；支撑横梁延伸至前探杆下方。