[实用新型]一种FID放大电路板快速测试装置

说明书

本实用新型公开了电路板测试技术领域的一种FID放大电路板快速测试装置，包括工作台，所述工作台的顶部左右两侧均通过螺栓固定安装有支撑架组，两个所述支撑架组的前后侧壁均贯穿安装有转杆，两个所述转杆的外壁均通过花键连接有转筒，两个所述转筒的外壁均套接有传送带，该种FID放大电路板快速测试装置，设计合理，实用性强，采用跌落测试箱可以防止测试件四处散落，而且采用斜向跌落测试板，可以使测试件快速的落入到工作台上，使工件可以快速的收集，通过支撑架组、转杆、转筒和传送带组成的传动架构，可以使加工完成的工件直接传输到跌落测试箱内，无需人工收集，再进行测试，降低了人工成本，提高了测试效率。

技术领域

本实用新型涉及电路板测试技术领域，具体为一种FID放大电路板快速测试装置。

背景技术

FID放大电路板是用于将微弱的信号进行放大，便于信号的传输，目前生产出来的放大电路板要进行各种测试，有高低压测试、极限高温测试、跌落测试等，来测试FID放大电路板的各种性能，但是目前对放大电路板进行测试时，是人工手拿FID放大电路板距离测试板高度零点五米放下，使FID放大电路板做自由落体运动，落到测试板上的FID放大电路板四处落散，不好收集，而且掉落到地面还会使FID放大电路板造成损坏，而且目前也没有使生产出来的FID放大电路板直接与测试装置对接，需要先通过人工对生产出来的FID放大电路板收集，之后再进行测试，这样增加人工的劳动成本，而且测试效率低，因此如何发明一种防止FID放大电路板四处落散，便于收集，而且降低人工成本的FID放大电路板快速测试装置，是目前本技术领域人员亟待解决的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种FID放大电路板快速测试装置，以解决上述背景技术中提出的目前对 FID放大电路板测试时，FID放大电路板容易四处落散，不便于收集，而且人工劳动成本高和测试效率低的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种FID放大电路板快速测试装置，包括工作台，所述工作台的顶部左右两侧均通过螺栓固定安装有支撑架组，两个所述支撑架组的前后侧壁均贯穿安装有转杆，两个所述转杆的外壁均通过花键连接有转筒，两个所述转筒的外壁均套接有传送带，所述工作台的顶部左侧通过螺栓固定安装有电机，所述电机的输出端连接有转轴，所述转轴的圆周外壁前端通过花键连接有皮带盘，且皮带盘的外壁与转杆的外壁通过皮带连接，所述工作台的顶部右侧焊接有跌落测试箱，所述跌落测试箱的左侧壁上部焊接有进物框，所述工作台的右侧壁下端焊接有出物框，所述跌落测试箱的内腔底部通过螺栓固定安装有跌落测试板。

优选的，所述支撑架组包括两个支撑架，且两个支撑架安装于工作台的顶部前后两侧。

优选的，所述跌落测试箱的前侧外壁通过螺栓固定安装有透视窗。

优选的，所述进物框的形状为弧形。

优选的，所述跌落测试板为木板，且跌落测试板的倾斜面与水平面所成的角度为三十度。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该种FID放大电路板快速测试装置，设计合理，实用性强，采用跌落测试箱可以防止测试件四处散落，而且采用斜向跌落测试板，可以使测试件快速的落入到工作台上，使工件可以快速的收集，通过支撑架组、转杆、转筒和传送带组成的传动架构，可以使加工完成的工件直接传输到跌落测试箱内，无需人工收集，再进行测试，降低了人工成本，提高了测试效率。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型结构侧视图；

图3为本实用新型跌落测试箱剖视图。

图中：1工作台、2支撑架组、3转杆、4转筒、5传送带、6电机、7转轴、8跌落测试箱、9进物框、10出物框、11跌落测试板。

具体实施方式