[实用新型]光控晶闸管电耐久性加速老化筛选试验电路

说明书

本实用新型公开光控晶闸管电耐久性加速老化筛选试验电路，包括调压器、高压变压器、全波整流桥以及高压衰减电阻器；其中，所述调压器的一次侧和电源相连接，调压器的二次侧和高压变压器的一次侧相连接，高压变压器的二次侧和全波整流桥的输入端相连接，全波整流桥的输出端的正负极之间串接有若干个高压衰减电阻器，全波整流桥的输出端用于和被试光控晶闸管相连接。通过改变正反向阻断电压波形，提高电压峰值，增加严酷程度，缩短试验时间，以达到快速筛选的试验目的。

技术领域

本实用新型涉及电力技术领域，具体涉及一种光控晶闸管电耐久性加速老化筛选试验电路。

背景技术

大功率晶闸管在高压直流输电、脉冲功率等方面得到了广泛的应用，因此保证产品质量，增强器件的可靠性，提高产品生产效率不可或缺。

目前大功率晶闸管器件在国家标准GB/T 15291-2015和GB/T-20992中都规定了电耐久性试验。对晶闸管也叫高温交流阻断试验，此试验是在额定的结温下施加正弦全波的重复峰值电压，运行足够长的时间，以考验证器件承受重复峰值电压的能力。

高温阻断试验条件：

a.器件结温T_jm

b.施加电压:器件正反向额定电压的2/3，50Hz的交流全波电压；

c.试验时间：t＝1000h。

d.试验器件漏电流保护值为400mA

目前常用的试验的电路原理图如附图1所示，

试验前后应测试器件的正反向重复峰值电压以及对应的正反向重复峰值电流，测试正向峰值电压，门极触发电流。

经过试验后器件失效的判据为：I_D、I_R＞2USL；V_T＞1.1USL；I_GT＞1.1USL

注1：usl为器件的规范上限值

2：若某个晶闸管在试验器件丧失了阻断电压的能力，则称该晶闸管失效。

现有的试验电路最主要的问题在于，由于试验时间较长，对于数千只器件来讲，如果逐只试验，则需要足够长的时间或需要大量的试验设备或平台，影响器件乃至整体工程的生产周期。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型的目的旨在提供一种光控晶闸管电耐久性加速老化筛选试验电路，以缩短试验的时间，达到快速筛选的试验目的。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

光控晶闸管电耐久性加速老化筛选试验电路，包括调压器、高压变压器、全波整流桥以及高压衰减电阻器；其中，

所述调压器的一次侧和电源相连接，调压器的二次侧和高压变压器的一次侧相连接，高压变压器的二次侧和全波整流桥的输入端相连接，全波整流桥的输出端的正负极之间串接有若干个高压衰减电阻器，全波整流桥的输出端用于和被试光控晶闸管相连接。

所述的光控晶闸管电耐久性加速老化筛选试验电路，还包括回路限流电阻器，回路限流电阻器的一端和全波整流桥的输出端的负极相连接，另一端用于和被试光控晶闸管的负极相连接。

所述的光控晶闸管电耐久性加速老化筛选试验电路，还包括电流采样电阻器，电流采样电阻器的一端和全波整流桥的输出端的正极相连接，另一端用于和被试光控晶闸管的正极相连接。

所述电源为220V交流电源。

本实用新型的有益效果在于：