[实用新型]一种改良式采样端子有效

专利信息
申请号: 201820524032.5 申请日: 2018-04-12
公开(公告)号: CN208315465U 公开(公告)日: 2019-01-01
发明(设计)人: 任世刚 申请(专利权)人: 三友联众集团股份有限公司
主分类号: H01H50/14 分类号: H01H50/14
代理公司: 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 代理人: 方小明
地址: 523000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 采样端子 采样电阻 屏蔽片 导接部 改良式 采样 本实用新型 固定部 遮盖 继电器 采样准确性 连接固定部 采样过程 磁场干扰 端子技术 焊脚 屏蔽 磁场 增设
【说明书】:

实用新型涉及继电器的端子技术领域,尤其公开了一种改良式采样端子,包括固定部、导接部及连接固定部与导接部的采样电阻件,采样电阻件设有彼此间隔的两个采样焊脚;固定部或/和导接部设置有屏蔽片,屏蔽片用于遮盖采样电阻件;本实用新型的改良式采样端子增设有用于遮盖采样电阻件的屏蔽片,在采样端子的采样过程中,利用屏蔽片屏蔽外界的磁场干扰,降低外界的磁场对采样端子所采样的数据的干扰,提升采样端子的采样准确性及采样精度。

技术领域

本实用新型涉及继电器的端子技术领域,尤其公开了一种改良式采样端子。

背景技术

随着科学技术的发展,各种电表等都实现了智能化,即电表实现了自动化数据采集,现有技术中智能电表的数据采集主要是通过配置继电器来实现的,继电器的输出端子上连接有采样电阻,利用采样电阻实现采样数据的收集,进而实现智能电表的数据采集;实际使用时,采样电阻裸露设置,外界的磁场会干扰采样电阻的采样数据,致使采样电阻的采样准确性降低及采样精度降低。

实用新型内容

为了克服现有技术中存在的缺点和不足,本实用新型的目的在于提供一种改良式采样端子,利用屏蔽片屏蔽外界的磁场干扰,降低外界的磁场对采样端子所采样的数据的干扰,提升采样端子的采样准确性及采样精度。

为实现上述目的,本实用新型的一种改良式采样端子,包括固定部、导接部及连接固定部与导接部的采样电阻件,采样电阻件设有彼此间隔的两个采样焊脚;固定部或/和导接部设置有屏蔽片,屏蔽片用于遮盖采样电阻件。

优选地,两个所述采样焊脚自采样电阻件的同一侧突设而成,两个采样焊脚彼此间隔且平行设置,屏蔽片设有插脚,插脚与采样焊脚彼此间隔且平行设置。

优选地,两个所述采样焊脚均与插脚平行设置,两个采样焊脚位于插脚的同一侧,两个采样焊脚到插脚的距离相等。

优选地,所述屏蔽片包括连接部及与连接部连接的第一遮蔽部,连接部与固定部或/和导接部连接,第一遮蔽部用于遮盖采样电阻件。

优选地,所述屏蔽片还包括与第一遮蔽部连接的第二遮蔽部,第二遮蔽部自第一遮蔽部弯折延伸而成,采样电阻件位于第一遮蔽部与第二遮蔽部之间。

优选地,所述第一遮蔽部、第二遮蔽部、采样电阻件彼此间隔且平行设置。

优选地,所述连接部铆接于导接部,导接部设有铆柱,连接部设有用于容设铆柱的铆孔。

优选地,所述固定部用于装设至外界的继电器,固定部设有卡槽,继电器设有突伸入卡槽内的卡块,采样端子为继电器的输出端子之一。

优选地,所述导接部连接有容置筒,容置筒设有用于容置外界的导体的容置盲孔,容置筒螺接有突伸入容置盲孔内的螺纹压柱,螺纹压柱用于将外界的导体压持在容置筒上。

本实用新型的有益效果:本实用新型的改良式采样端子增设有用于遮盖采样电阻件的屏蔽片,在采样端子的采样过程中,利用屏蔽片屏蔽外界的磁场干扰,降低外界的磁场对采样端子所采样的数据的干扰,提升采样端子的采样准确性及采样精度。

附图说明

图1为本实用新型的立体结构示意图;

图2为本实用新型的分解结构示意图。

附图标记包括:

1—固定部 2—导接部 3—采样电阻件

4—采样焊脚 5—屏蔽片 6—插脚

7—连接部 8—第一遮蔽部 9—第二遮蔽部

11—铆柱 12—铆孔 13—卡槽

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