[实用新型]一种陶瓷砖平整度激光测量装置有效

专利信息
申请号: 201820315302.1 申请日: 2018-03-08
公开(公告)号: CN208419911U 公开(公告)日: 2019-01-22
发明(设计)人: 周强;脱羚;王莹;杨晓妍;王浩然;高乐乐;田杏芝;王思琪 申请(专利权)人: 陕西科技大学
主分类号: G01B11/30 分类号: G01B11/30
代理公司: 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 代理人: 李罡
地址: 710021*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 陶瓷墙地砖 采集模块 平整度 陶瓷墙地砖表面 激光测量装置 本实用新型 定位模块 光照模块 检测区域 图像数据 形变区域 陶瓷砖 网格状 模糊专家系统 图像数据发送 平整度检测 表面网格 瓷砖表面 计算模块 照明方式 质量分级 激光器 形变处 分级 并发 照射 激光 相机 垂直 采集
【说明书】:

本实用新型涉及一种陶瓷砖平整度激光测量装置,包括光照模块和采集模块;光照模块包括网格状密集激光器,安装于检测区域上方;采集模块包括相机,安装于检测区域上方。本实用新型利用网格状密集激光以垂直于瓷砖表面的照明方式对其表面进行照射,获得表面网格均匀分布的陶瓷墙地砖;利用采集模块,通过CCD相机采集所述陶瓷墙地砖图像数据,并将所述图像数据发送给定位模块;基于定位模块,定位所述图像数据的形变区域并发送给计算模块,采用BP神经网络对所述形变区域进行处理,计算出陶瓷墙地砖表面发生形变处的平整度;最后利用分级模块,采用模糊专家系统实现对陶瓷墙地砖的质量分级,以解决陶瓷墙地砖表面平整度检测精度低的问题。

技术领域

本实用新型涉及陶瓷墙地砖质量检测技术领域,具体涉及一种陶瓷砖平整度激光测量装置。

背景技术

陶瓷墙地砖的表面平整度是影响其品质的主要因素之一,所以陶瓷墙地砖的平整度检测问题尤为重要。

由于技术水平的限制,我国大多陶瓷企业针对平整度的测量仍处于人工检测阶段,因此检测精度难以得到保证。而国外虽然已研发出一些较为成熟的检测陶瓷墙地砖平整度的设备,但这些设备常在国内出现“水土不服”的情况。另外,这些设备高昂的价格也制约着其在国内的广泛使用。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种陶瓷砖平整度激光测量装置,能够在线、快速且准确的采集陶瓷墙地砖平整度信息,降低人工成本,从而显著提高陶瓷生产企业的经济效益。

本实用新型所采用的技术方案为:

一种陶瓷砖平整度激光测量装置,其特征在于:

包括光照模块和采集模块;

光照模块中包括网格状密集激光器,安装于检测区域上方;

采集模块包括相机,安装于检测区域上方。

光照模块的网格状密集激光器包括激光头、支架及1-3V可调电源,网格状密集激光器发出的关照范围内格子总数为51×51。

采集模块包括面阵CCD相机、黑白摄像头及其增透膜和图像采集卡。

本实用新型具有以下优点:

本实用新型利用光照模块,采用网格状密集激光以垂直于瓷砖表面的照明方式对其表面进行照射,获得表面网格均匀分布的陶瓷墙地砖;利用采集模块,通过CCD相机采集所述陶瓷墙地砖图像数据,为后期平整度的计算和分级提供图像信息基础,快速且准确的采集陶瓷墙地砖平整度信息,提高检测效率,降低检测的人工成本。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构框图;

图2为定位模块控制流程图;

图3为计算模块中BP神经网络训练流程图;

图4为计算模块中BP神经网络测试流程框图;

图5为分级模块控制流程图。

具体实施方式

下面结合具体实施方式对本实用新型进行详细的说明。

本实用新型涉及一种陶瓷墙地砖平整度检测装置及方法,装置包括光照模块和采集模块。

所述光照模块,采用网格状密集激光以垂直于瓷砖表面的照明方式对其表面进行照射,获得表面网格均匀分布的陶瓷墙地砖。一个光照面积可调且格子总数为51*51的格状密集激光器,包括一个激光头、一个支架及一个1-3V可调电源,所述激光器以距离砖面hcm(10cm≤h≤50cm)且垂直于瓷砖表面的照明方式照射陶瓷墙地砖表面,并获得网格均匀分布的陶瓷墙地砖。

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