[实用新型]一种测量薄壁异形管波峰平直段壁厚的三坐标测量装置

说明书

本实用新型公开了一种测量薄壁异形管波峰平直段壁厚的三坐标测量装置，包括：平台；三坐标测头，其用于测量被测量物；移动机构，其使上述三坐标测头移动；控制装置，其控制上述移动机构；定位机构，包括，内支撑定位杆：末端通过定位部在平台上定位，所述内支撑定位杆外径小于所述薄壁异形管侧壁上波峰的内腔内径，所述内支撑定位杆的长度大于所述波峰的内腔深度，所述内支撑定位杆的顶端设有用于支撑所述波峰的内壁顶点的支撑部；固定垫块：置于所述平台上以支撑薄壁异形管，使得所述支撑部的顶端与所述薄壁异形管的平直段内壁相抵。本实用新型可简化薄壁异形管波峰平直段壁厚测的测量作业，提高测量结果的可靠性。

技术领域

本实用新型涉及机械加工技术领域，特别是涉及一种测量薄壁异形管波峰平直段壁厚的三坐标测量装置。

背景技术

如图1a所示，待测的薄壁异形管7中心位置设有管腔，波峰8位于所述薄壁异形管7的外壁上，波峰8的内腔与所述的管腔相连通。

以往测量波峰8平直段壁厚是在其成形之前，用壁厚千分尺测量管坯的壁厚，但薄壁异形管7的异形部位波峰8在成型过程中会受到较大的应力，波峰8平直段壁厚会发生一定变化，管坯测量数据已不再适用。零件加工成形之后，由于波峰8内腔空间尺寸较小，测量仪器无法直接接触到被测位置，因此，成型后波峰8平直段的壁厚测量一直是一个难题。

三坐标测量机适用广，测量精度高，但是由于机器回转测杆及测头半径大于波峰8的内腔内径，导致仪器的测头不能触测到被测量位置，因此无法实现薄壁异形管7的波峰8平直段壁厚的测量。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有技术中存在的薄壁异形管薄壁波峰平直段壁厚不易测量的问题，而提供一种测量薄壁异形管波峰平直段壁厚的三坐标测量装置，以简化平直段壁厚的测量过程，提高测量结果的可靠性。

一种测量薄壁异形管波峰平直段壁厚的三坐标测量装置，包括：

平台；三坐标测头，其用于测量被测量物；移动机构，其使上述三坐标测头移动；控制装置，其控制上述移动机构；

定位机构，包括，

内支撑定位杆：末端通过定位部在平台上定位，所述内支撑定位杆外径小于所述薄壁异形管侧壁上波峰的内腔内径，所述内支撑定位杆的长度大于所述波峰的内腔深度，所述内支撑定位杆的顶端设有用于支撑所述波峰的内壁顶点的支撑部；

固定垫块：置于所述平台上以支撑薄壁异形管，使得所述支撑部的顶端与所述薄壁异形管的平直段内壁相抵。

作为优选方式，所述定位部包括对所述内支撑定位杆进行夹紧定位的三爪卡盘和用于将所述三爪卡盘固定在平台上的磁力座。

作为优选方式，所述磁力座的长度为50-60mm，所述磁力座的高度为50-70mm，优选为60mm，所述磁力座的宽度为40-60mm。

作为优选方式，磁力座长度与三爪卡盘轴向长度之和，小于薄壁异形管的管腔直径。

作为优选方式，所述支撑部为球体。

作为优选方式，所述球体直径为2-3mm，球体表面粗糙度Ra为0.2-0.3μm，球体表面轮廓度为0.004-0.006mm。

作为优选方式，所述内支撑定位杆包括同轴心依次连接的球体、上圆柱杆、圆锥柱体和下圆柱杆，其中：所述下圆柱杆的底端与所述的三爪卡盘夹紧配合，所述下圆柱杆的外径与所述圆锥柱体的底端外径相同，所述圆锥柱体的顶端外径与所述的上圆柱杆的外径相同，并小于所述球体的直径。

作为优选方式，所述上圆柱杆的长度大于所述薄壁异形管的深度。

作为优选方式，所述内支撑定位杆的长度为50-60mm，上圆柱杆直径1.5-2.5mm，球体及上圆柱杆的长度15mm，下圆柱杆的直径为4-6mm。