[实用新型]一种变形量测量装置有效

专利信息
申请号: 201820290232.9 申请日: 2018-03-01
公开(公告)号: CN208108999U 公开(公告)日: 2018-11-16
发明(设计)人: 刘彦;徐梓熙;吕中杰;黄风雷 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01B5/30 分类号: G01B5/30
代理公司: 北京远立知识产权代理事务所(普通合伙) 11502 代理人: 李海燕
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 滑动机构 变形量测量装置 可滑动安装 方向设置 测量 深度尺 支撑架 支撑框 凹陷和凸起 本实用新型 变形方式 方向垂直 变形的 变形量 刻度尺 同面 凸起 垂直 测试
【说明书】:

实用新型提供了一种变形量测量装置,包括支撑框、在第一方向上可滑动安装于所述支撑框上的第一滑动机构,和在第二方向上可滑动安装于所述支撑架上的第二滑动机构;所述支撑架上沿所述第一方向设置有第一刻度尺,所述第一滑动机构上沿所述第二方向设置有第二刻度尺,所述第二滑动机构上设置有深度尺;所述第一方向与所述第一方向同面且相互垂直,所述深度尺的测量方向垂直于所述第一方向和所述第二方向所在的平面。其可以测量凹陷和凸起两类变形方式的变形量,克服不能测试凸起变形的缺点,测量方便准确。

技术领域

本实用新型涉及工件测试设备技术领域,尤其是涉及一种板件或壳体工件变形量测量装置。

背景技术

材料与结构在冲击或撞击条件下的变形破坏规律是冲击动力学领域研究的热点,一直受到广泛关注。在评估结构的破坏程度时,结构在冲击载荷作用下的位移,即变形量常常作为重要的参考量。当平板类结构发生凹陷变形时,变形量可以通过简易结构进行测量,获得近似的数值;但是由于缺乏准确测量的专业工具,当结构发生凸起变形,或待测目标并不完全规则时,结构全部位置变形量的获得是十分困难的,导致无法很好的评估冲击载荷与结构变形量的对应关系。

因此,提供一种变形量测量装置,以期为平板类凸起形变和不规则待测目标提供专门的测量工具,以便提高工件变形量的测量准确性和便利性,就成为本领域技术人员亟待解决的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种变形量测量装置,以期为平板类凸起形变和不规则待测目标提供专门的测量工具,以便提高工件变形量的测量准确性和便利性。

为了解决上述技术问题,本实用新型提供一种变形量测量装置,包括支撑框、在第一方向上可滑动安装于所述支撑框上的第一滑动机构,和在第二方向上可滑动安装于所述支撑架上的第二滑动机构;

所述支撑架上沿所述第一方向设置有第一刻度尺,所述第一滑动机构上沿所述第二方向设置有第二刻度尺,所述第二滑动机构上设置有深度尺;

所述第一方向与所述第一方向同面且相互垂直,所述深度尺的测量方向垂直于所述第一方向和所述第二方向所在的平面。

在测量过程中,待测工件放置于支撑框的框架内部,待测部位透过框架外露,通过第一滑动机构带动第二刻度尺相对于第一刻度尺的滑动、深度尺相对于第二刻度尺的滑动,可根据测量目标的实际结构尺寸测量位置,并在确定测量位置后,通过调整深度尺的高度实现测量,具有很强的适应性;同时,用于深度测量的深度尺可以在第一方向和第二方向上任意滑动,并通过第一刻度尺和第二刻度尺的配合,测量全部位置的变形量,同时,基准点选取可调节,可以测量凹陷和凸起两类变形方式的变形量,克服不能测试凸起变形的缺点。

进一步地,所述支撑框包括依次可拆卸连接的第一框体、第二框体、第三框体和第四框体;

所述第一框体和所述第三框体上均安装有光轴,所述光轴在所述第一方向上延伸,所述第一滑动机构滑动安装于两所述光轴上,所述第一刻度尺安装于所述第一框体和/或所述第三框体上。

进一步地,所述支撑框的底部安装有可伸缩垫脚,所述垫脚的伸缩方向与所述深度尺的测量方向相同。

进一步地,所述第一滑动机构包括固定导轨和安装于所述固定导轨上的直线轴,所述第二刻度尺安装于所述固定导轨上,所述第二滑动机构可滑动地安装于所述直线轴上。

进一步地,所述第二滑动机构包括滑动安装于所述直线轴的滑块,所述深度尺沿深度测量方向可伸缩地安装于所述滑块。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

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