[实用新型]用于PIV测量的蒸发器和PIV测量系统有效

专利信息
申请号: 201820288341.7 申请日: 2018-03-01
公开(公告)号: CN208031933U 公开(公告)日: 2018-11-02
发明(设计)人: 张友森;张建丽;杨庆卫;张忠梅;丁涛;苏国萍 申请(专利权)人: 中国神华能源股份有限公司;北京国华电力有限责任公司;神华国华(北京)电力研究院有限公司
主分类号: B01D1/00 分类号: B01D1/00;B01D1/22;B01D1/30;G01P5/20;G01P5/22
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 岳永先;黄志兴
地址: 100011 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 蒸发器 本实用新型 透光窗 汽液两相流 准确度 加热膜 片光源 流场 射入 测量
【说明书】:

实用新型涉及PIV测量领域,公开了一种用于PIV测量的蒸发器和PIV测量系统,其中,所述蒸发器具有用于供PIV片光源射入至蒸发器内部的透光窗,所述透光窗的内侧敷设有内加热膜。本实用新型提供的技术方案能够提高蒸发器内汽液两相流流场的测量准确度。

技术领域

本实用新型涉及PIV测量领域,具体地,涉及一种用于PIV测量的蒸发器,进一步,本实用新型还涉及一种PIV测量系统。

背景技术

PIV(Particle Image Velocimetry,又称粒子图像测速法)是七十年代末发展起来的一种瞬态、多点、无接触式的流体力学测速方法。其基本原理是在流场中散播一些跟踪性与反光性良好且比重与流体相当的示踪粒子,用自然光或激光片光源照射所测流场区域,形成光照平面,使用CCD等摄像设备获取示踪离子的运动图像,并记录相邻两帧图像序列之间的时间间隔,然后对拍摄到的连续两幅图像进行互相关分析,识别示踪粒子图像的位移,从而得到流体的速度场。因此,散布在流场中的示踪粒子直接决定着PIV量测的精度。只有示踪粒子分布均匀、流动跟随性高,其运动才能真实反映流体运动状态。故在测速技术中,要求示踪粒子的尺度要足够小且与被测流体的比重尽可能一致,其形状应尽量接近球形。

现有的PIV测量技术手段主要针对没有相变发生的单相或者两相流流场分析,一般可通过加特殊的示踪粒子就能达到测量流场的目的。而在低温多效海水淡化、盐化工以及真空制药等行业的基础性研究中,蒸发器内两相流动中往往伴随着强烈的汽液相变,蒸汽和液珠同时存在,蒸发器局部区域温度的不平衡将会造成PIV片光源进入的区域出现冷凝液珠,对片光源进行折射,从而影响PIV测量的测量准确度。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了克服现有技术存在的上述问题,提供一种用于PIV测量的蒸发器和一种PIV测量系统,用于提高蒸发器内流场测量的准确度。

为了实现上述目的,本实用新型第一方面提供一种用于PIV测量的蒸发器,其中,所述蒸发器具有用于供PIV片光源射入至蒸发器内部的透光窗,所述透光窗的内侧敷设有内加热膜。

优选地,所述透光窗的外侧敷设有外加热膜。

优选地,所述内加热膜和/或所述外加热膜为电加热膜。

优选地,所述蒸发器还包括用于对所述电加热膜进行供电的电源,该电源的输出功率可调。

优选地,所述内加热膜和/或所述外加热膜为粘贴在所述透光窗的表面上的透明膜片。

优选地,所述PIV片光源为片激光。

优选地,所述透光窗为玻璃窗。

优选地,所述蒸发器为真空密封容器。

优选地,所述蒸发器为降膜蒸发器。

本实用新型第二方面提供一种PIV测量系统,包括蒸发器,其中,所述蒸发器为根据本实用新型第一方面所述的蒸发器。

本实用新型提供的技术方案具有如下有益效果:

本实用新型提供的蒸发器具有透光窗,透光窗的内表面敷设有内加热膜,在对蒸发器内的汽液两相流流场进行测量之前,可通过加热内加热膜来使得透光窗的内表面温度高于蒸发器内的蒸发温度,从而避免蒸汽在透光窗上冷凝,如此,当PIV片光源经由透光窗射入至蒸发器内时,不会有冷凝液珠对PIV片光源构成折射,进而有利于提高蒸发器内汽液两相流流场测量的准确性。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的用于PIV测量的蒸发器中透光窗部分的结构示意图。

附图标记说明

1-电源 2-透光窗

3-内加热膜 4-导线

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