[实用新型]一种探针卡有效
申请号: | 201820284678.0 | 申请日: | 2018-08-02 |
公开(公告)号: | CN207946455U8 | 公开(公告)日: | 2018-12-28 |
发明(设计)人: | 梅森 | 申请(专利权)人: | 无锡旺矽科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067;G01R1/04 |
代理公司: | 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 | 代理人: | 陈娟 |
地址: | 214000 江苏省无锡市新*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 外体 探针卡 合金 合金离子 导出孔 固定板 电阻 传导 调试 体内 本实用新型 测试信号 活动连接 嵌入设置 数据传输 上端 导针 下端 焊接 芯片 测试 | ||
1.一种探针卡,包括探针卡外体(1),其特征在于:所述探针卡外体(1)的上端设有数据导出孔(101),所述数据导出孔(101)嵌入设置在探针卡外体(1)上,所述探针卡外体(1)的正面设有角度调试螺旋(2),所述角度调试螺旋(2)活动连接在探针卡外体(1)上,所述探针卡外体(1)的右侧设有固定板(5),所述固定板(5)焊接在探针卡外体(1)上,所述探针卡外体(1)靠近数据导出孔(101)的一侧设置有定位螺旋(3),所述定位螺旋(3)嵌入设置在探针卡外体(1)中,所述固定板(5)的上端设有探针装置(6),所述探针装置(6)安装在固定板(5)上,所述探针装置(6)的上端设有数据导线(7),所述数据导线(7)通过螺钉固定连接在探针装置(6)上,所述探针卡外体(1)的下表面设有旋转底座(107),所述旋转底座(107)焊接在探针卡外体(1)上,所述旋转底座(107)的外壁设有电镀层(1072),所述电镀层(1072)紧密贴合在旋转底座(107)中,所述旋转底座(107)的下端设有底座(4),所述底座(4)活动连接在旋转底座(107)中,所述底座(4)的内部设有固定导电构件孔(401),所述固定导电构件孔(401)贯穿连接在底座(4)中,所述探针卡外体(1)的内部设有导电构件(105),所述导电构件(105)嵌入设置在探针卡外体(1)中,所述导电构件(105)的两侧均设置有绝缘基地(104)和测试电路板(106),所述绝缘基地(104)和测试电路板(106)嵌入设置在导电构件(105)中,所述导电构件(105)靠近旋转底座(107)的一侧设置有数据硬盘(108),所述数据硬盘(108)通过导线紧密连接在导电构件(105)上,所述探针装置(6)中设置有电极端口(603)和承接板(602),所述电极端口(603)和承接板(602)安装在探针装置(6)中,所述承接板(602)的上端设有固定孔(601),所述固定孔(601)贯穿连接在承接板(602)中,所述承接板(602)的上表面设有导针(604),所述导针(604)焊接在承接板(602)上,所述导针(604)的上端设有氧化铝凸点(6041),所述氧化铝凸点(6041)固定安装在导针(604)上,所述导针(604)的下端设有黄铜套管(6047),所述黄铜套管(6047)焊接在导针(604)上。
2.根据权利要求1所述的一种探针卡,其特征在于:所述探针卡外体(1)的下端设有散热孔(102),所述散热孔(102)贯穿连接在探针卡外体(1)上,且所述散热孔(102)均匀分布在探针卡外体(1)的下端。
3.根据权利要求1所述的一种探针卡,其特征在于:所述探针卡外体(1)的内部设有温度调控板(103),所述温度调控板(103)嵌入设置在探针卡外体(1)中,且温度调控板(103)设有多片散热铝片,且散热铝片均匀分布。
4.根据权利要求1所述的一种探针卡,其特征在于:所述旋转底座(107)的外壁设有旋转齿轮(402),所述旋转齿轮(402)焊接在旋转底座(107)上,且旋转齿轮(402)的外壁设有多个小凹齿,且小凹齿呈“圆周”分布在旋转齿轮(402)的外壁。
5.根据权利要求1所述的一种探针卡,其特征在于:所述固定板(5)的两侧设有动力臂(501),所述动力臂(501)固定安装在固定板(5)的两侧,且动力臂(501)设有两组。
6.根据权利要求1所述的一种探针卡,其特征在于:所述导针(604)的下端设有弹簧管(6044),所述弹簧管(6044)设置在导针(604)上,且弹簧管(6044)内部设置有小弹簧。
7.根据权利要求1所述的一种探针卡,其特征在于:所述旋转底座(107)的内部设有缓解弹簧(1071),所述缓解弹簧(1071)嵌入设置在旋转底座(107)中,且缓解弹簧(1071)在底座(4)上方。
8.根据权利要求1所述的一种探针卡,其特征在于:所述导针(604)的下端设有测试端(6045),所述测试端(6045)嵌入设置在导针(604)中,且测试端(6045)呈“半球体状”。
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