[实用新型]半导体制冷片综合测试设备

说明书

本实用新型涉及一种半导体制冷片综合测试设备，包括机架，所述的机架设置有进料装置、分拣装置及控制器，所述的进料装置包括料盘输送带、空盘输送带、待测品输送带、进料搬运机构及视觉测试机构，所述的分拣装置包括电阻测试机构、厚度测试机构、第一分拣搬运机构、第二分拣搬运机构、合格品输送带及不合格品输送带。采用上述方案，本实用新型提供一种按电阻值及厚度进行区分回收、检测准确、检测效率高的半导体制冷片综合测试设备。

技术领域

本实用新型具体涉及一种半导体制冷片综合测试设备。

背景技术

半导体制冷片，也叫热电制冷片，是一种热泵。它的优点是没有滑动部件，应用在一些空间受到限制，可靠性要求高，无制冷剂污染的场合。利用半导体材料的Peltier效应，当直流电通过两种不同半导体材料串联成的电偶时，在电偶的两端即可分别吸收热量和放出热量，可以实现制冷的目的。它是一种产生负热阻的制冷技术，其特点是无运动部件，可靠性也比较高。

附图1为半导体制冷片，包括主体92，及设置于主体92的两根引线921和条码牌922，出厂时需要对其引线通电进行电阻测试，电阻值位于指定范围内才为合格品，否则为不合格品，而要求更高的半导体制冷片需要对其厚度进行检测，厚度不符合标准的也为不合格品，传统的电阻检测方式，是由人工放置于电阻测试器，由人工观察电阻值进行判断，再通过游标卡尺读出厚度，然后区分合格品及不合格品，这样的检测方式由手动区分回收容易出现差错，为避免该种情况发生，需要多次检测，使检测效率大大降低。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种按电阻值及厚度进行区分回收、检测准确、检测效率高的半导体制冷片综合测试设备。

为实现上述目的，本实用新型提供了如下技术方案：包括机架，其特征在于：所述的机架设置有进料装置、分拣装置及控制器，所述的进料装置包括料盘输送带、空盘输送带、待测品输送带、进料搬运机构及视觉测试机构，所述的料盘输送带用于输送多个呈堆叠状并放置半导体制冷片的料盘，该料盘输送带设置有与待测品输送带相对应的上料位及将堆叠的料盘放置于料盘输送带的放盘位，所述的空盘输送带用于输送多个呈堆叠状并空置的料盘，该空盘输送带设置有与料盘输送带的上料位对应的卸盘位及将堆叠的空料盘取出空盘输送带的取盘位，所述的待测品输送带逐个用于输送半导体制冷片，该待测品输送带设置有与料盘输送带的上料位对应的放料位及延伸至分拣机构的测试位，所述的进料搬运机构将位于料盘输送带的上料位的半导体制冷片搬运至待测品输送带的放料位并将位于料盘输送带的上料位的空料盘搬运至空盘输送带的卸盘位，所述的视觉测试机构设置于待测品输送带的侧面并将经过的半导体制冷片进行摄像记录，并将摄像记录传输至控制器进行储存，所述的分拣装置包括电阻测试机构、厚度测试机构、第一分拣搬运机构、第二分拣搬运机构、合格品输送带及不合格品输送带，所述的电阻测试机构包括电阻测试台及电阻测试组件，并将测试数据传输至控制器进行储存及比较，所述的合格品输送带及不合格品输送带平行设置且输送方向相同，所述的厚度测试机构包括位于合格品输送带及不合格品输送带之间的厚度测试台及厚度检测组件，并将测试数据传输至控制器进行储存及比较，所述的不合格品输送带设置有与第一分拣搬运机构相对应的等待位，所述的第一分拣搬运机构将位于待测品输送带的测试位的半导体制冷片搬运至电阻测试台，并将位于电阻测试台的半导体制冷片搬运至不合格品输送带的等待位，该半导体制冷片为经控制器比较后的合格品，则等待第二分拣搬运机构搬运至厚度测试台，该半导体制冷片为经控制器比较后的不合格品，则由不合格品输送带继续传输，所述的第二分拣搬运机构设置有两组同步移动并用于搬运半导体制冷片的搬运组件，为第一搬运组件及第二搬运组件，所述的第一搬运组件与不合格品输送带位置相对应时，第二搬运组件与厚度测试台的位置相对应；所述的第一搬运组件与厚度测试台的位置相对应，第二搬运组件与合格品输送带位置相对应，所述的第一搬运组件将厚度检测后的不合格产品搬运至不合格品输送带，由不合格品输送带继续输送，所述的第二搬运组件将厚度检测后的合格产品搬运至合格品传输带，由合格品输送带继续输送。