[实用新型]一种MCU芯片失效检测告警电路

说明书

本实用新型公开了一种MCU芯片失效检测告警电路，所述MCU芯片的WID引脚连接至看门狗电路，所述MCU芯片失效检测告警电路包括信号检测单元、失效告警单元；所述信号检测单元的输入端连接至MCU芯片的WID引脚的看门狗信号输出；所述信号检测单元的输出端连接至所述失效告警单元的输入端。本实用新型的种MCU芯片失效检测告警电路通过信号检测单元检测MCU芯片发出的信号，在MCU芯片异常时进行告警提示。

技术领域

本实用新型涉及MCU领域，特别涉及一种MCU芯片失效检测告警电路。

背景技术

目前许多电子设备或模块均采用了微控制单元MCU芯片进行系统或模块控制。为了防止系统程序受到干扰而“跑飞”，通常引入看门狗电路对MCU芯片的程序进行监控，然而MCU芯片出现故障，无法进行告警提示。

发明内容

本实用新型的目的在于克服现有技术问题，提出一种MCU芯片失效检测告警电路。

本实用新型采用如下技术方案：

所述MCU芯片失效检测告警电路包括信号检测单元（3）和失效告警单元（4）；

所述信号检测单元的输入端连接至MCU芯片的WID引脚的喂狗信号输出端；所述信号检测单元的输出端连接至所述失效告警单元（4）的输入端；

所述信号检测单元包括第一电阻（R1）和第一电容（C1），所述第一电阻（R1）的一端为所述信号检测单元的输入端，所述第一电阻（R1）的另一端连接至所述第一电容（C1）的一端；所述第一电容（C1）的另一端为所述信号检测单元的输出端；

所述失效告警单元（4）包括可控开关器件（Q1）、光电耦合器件（IC1）、第三电阻（R3）、第四电阻、告警元件；

所述可控开关器件（Q1）的控制端为所述失效告警单元的输入端，所述可控开关器件（Q1）的一端连接至所述光电耦合器件（IC1）的发光二极管阴极，所述可控开关器件（Q1）的另一端连接至信号地；

所述光电耦合器件（IC1）的发光二极管阳极连接至所述第三电阻（R3）的一端，所述第三电阻（R3）的另一端连接至直流电源，所述第四电阻（R4）的一端连接至所述告警元件的一端，所述第四电阻（R4）的另一端连接至直流电源；

所述告警元件的另一端连接至所述光电耦合器件（IC1）的接收器件集电极，所述光电耦合器件（IC1）的接收器件发射极连接至电源地。

进一步的，所述可控开关器件（Q1）为N型MOS管，所述可控开关器件（Q1）的栅极为所述失效告警单元的输入端，所述可控开关器件（Q1）的漏极连接至所述光电耦合器件（IC1）的发光二极管阴极，所述可控开关器件（Q1）的源极连接至信号地。

进一步的，优选地，所述告警元件为发光二极管或者发声元件；所述发声元件为蜂鸣器。

进一步的，所述直流电源的稳压9V电源。

进一步的，所述信号检测单元还包括滤波模块，所述滤波模块的输入端连接所述信号检测单元的输出端，所述滤波模块的输出端连接所述失效告警单元的输入端；所述滤波模块包括第二电阻（R2）和第二电容（C2）；所述第二电阻（R2）的一端分别连接至所述信号检测单元的输出端所述失效告警单元的输入端，所述第二电阻（R2）的另一端连接至信号地；所述第二电容（C2）的一端分别连接至所述信号检测单元的输出端所述失效告警单元的输入端，所述第二电容（C2）的另一端连接至信号地。

通过本实用新型的MCU芯片失效检测告警电路，与现有技术，本实用新型的有益效果是：通过信号检测单元（3）检测MCU芯片的WID引脚信号的喂狗信号，并判断MCU芯片是否存在故障，并在故障时发出告警信号。同时所述失效告警单元（4）进行隔离告警，避免告警单元对MCU芯片的影响。

附图说明