[实用新型]检测元件用的光源模块及检测系统有效
申请号: | 201820043139.8 | 申请日: | 2018-01-11 |
公开(公告)号: | CN207717641U | 公开(公告)日: | 2018-08-10 |
发明(设计)人: | 张勋章 | 申请(专利权)人: | 昆山全盈自动化设备有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 康艳青;姚开丽 |
地址: | 215321 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 待测元件 导光部件 光源模块 法线 不平行 出光面 光源固定部件 检测系统 出光口 发光端 检测 照射 本实用新型 供应器 种检测 射出 光源 垂直 | ||
本实用新型提供一种检测元件用的光源模块及检测系统,其包括导光部件以及光源固定部件。导光部件用以对光源供应器所产生的光线进行导向并由导光部件的发光端发出光线。光源固定部件具有出光面,出光面具有至少两条彼此不平行的法线,其中出光面上具有出光口,由导光部件的发光端发出的光线从出光面的出光口射出。其中光源模块用以在检测程序中照射待测元件的待测表面,且待测元件的待测表面具有至少两条彼此不平行的法线,当在检测程序中使用光源模块照射待测元件时,出光面至少垂直于待测元件的待测表面的至少两条彼此不平行的法线。
技术领域
本实用新型是相关于一种检测元件用的光源模块及检测系统,尤其指一种可均匀照射待测元件的曲面或多平面表面的光源模块及检测系统。
背景技术
在当今工业中,螺丝、法兰轮等元件已被广泛地应用在例如机械、制造、电子或营建等各式产业中,并采用自动化的大量生产以符合使用需求,但由于通过大量生产的元件的品质并不一致,且若将不良元件使用在工业上亦会导致产品或建物的品质与安全性降低,因此元件在生产完成后需经过检测以区分良品与不良品。
在检测程序中,会提供光源照射待测元件,以将待测元件的瑕疵部分照射得更加清晰,借此提高检测的准确度,然而,传统所使用的光源仅为一个点光源或是一个平面的线性光源,因此,若待测元件有曲面或多平面表面时,例如螺丝头部或法兰轮外围,会使得传统光源无法完整或均匀照射待测元件的曲面或多平面表面,使得曲面或多平面表面上的瑕疵(例如螺丝头裂)不易被检测出,进而影响检测品质。
实用新型内容
本实用新型目的在于提供一种检测元件用的光源模块,其通过将光源模块的出光面设计为非水平面,借此使光源模块可完整照射待测元件的曲面或多平面的表面,并且,本实用新型提供一种具有上述光源模块的检测系统,以提高待测元件的检测品质。
本实用新型的一实施例提供一种检测元件用的光源模块,其包括导光部件以及光源固定部件。导光部件连接于光源供应器,用以对光源供应器所产生的光线进行导向并由导光部件的发光端发出光线。光源固定部件具有出光面,出光面具有至少两条彼此不平行的法线,其中出光面上具有出光口,导光部件的发光端固定于光源固定部件内,使得由导光部件的发光端发出的光线从出光面的出光口射出。其中光源模块用以在检测程序中照射待测元件的待测表面,且待测元件的待测表面具有至少两条彼此不平行的法线,当在检测程序中使用光源模块照射待测元件时,出光面至少垂直于待测元件的待测表面的至少两条彼此不平行的法线。
本实用新型的另一实施例提供一种检测系统,其包括如上所述的检测元件用的光源模块、元件载台、元件旋转模块以及摄影模块。元件载台设有至少一个容置槽,容置槽供支撑待测元件,其中元件载台用以将容置槽中的待测元件移动至检测位置。元件旋转模块用以接触位于检测位置的待测元件,并使待测元件沿轴向方向旋转。摄影模块包含摄影装置,用以拍摄位于检测位置中的待测元件的影像。其中在检测程序中,光源固定部件的出光口朝向位于检测位置中的待测元件以照射待测元件。
本实用新型的光源模块的出光面由于设计为非水平面,因此即使待测元件的待测表面呈曲面或多平面的表面,当受到本实用新型的光源模块的照射时,待测元件的待测表面仍会被均匀且完整的照射,以减少与弱化暗带的产生。本实用新型的检测系统由于具有上述光源模块,因此可较容易发现待测元件在曲面或多平面的表面上的瑕疵,借此提高待测元件的检测品质。
附图说明
图1为本实用新型第一实施例的光源模块的外观立体示意图;
图2为本实用新型第一实施例的光源模块的俯视示意图;
图3为本实用新型第一实施例的光源模块应用于照射待测元件的示意图;
图4为本实用新型一实施例的检测系统的立体示意图;
图5为本实用新型一实施例的检测系统中的元件载台、光源模块与摄影模块的俯视示意图;
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