[发明专利]TD-LTE天线合成波束测试装置

说明书

本发明涉及一种TD‑LTE天线合成波束测试装置，包括多功分网络板、多个介质滑动组件及屏蔽外壳。介质滑动组件与分支路相应滑动设置，介质滑动组件包括第一介质滑动片与第二介质滑动片。第一介质滑动片与第二介质滑动片分别覆盖在多功分网络板上的分支路的两侧。介质滑动组件相对于多功分网络板滑动时，分支路被所述第一介质滑动片与第二介质滑动片所覆盖的区域面积大小能相应调整。屏蔽外壳设有屏蔽腔，多功分网络板与介质滑动组件均位于屏蔽腔内。上述的TD‑LTE天线合成波束测试装置，各个支路的输出相位均可以通过驱动与支路对应的介质滑动组件来进行调整，从而大大提升了TD‑LTE天线方向图的测试效率。

技术领域

本发明涉及天线测试装置技术领域，特别是涉及一种TD-LTE天线合成波束测试装置。

背景技术

对于移动TD-LTE(Time Division Long Term Evolution分时长期演进)天线的方向图测试，为得到其合成波束，需将各列单元天线配入不同的权值。传统的方向图测试方法通常采用不同功率与不同相位比的多个功分器来模拟出各列单元天线所配入的权值，然后由多个功分器合成波束。然而，当TD-LTE天线所需测试的合成波束状态较多时，则需更替不同权值的功分器，如此使得TD-LTE天线的方向图测试效率较低。

发明内容

基于此，有必要克服现有技术的缺陷，提供一种TD-LTE天线合成波束测试装置，它能够提高测试效率。

其技术方案如下：一种TD-LTE天线合成波束测试装置，包括：多功分网络板，所述多功分网络板包括多个分支路，所述分支路一端用于与天线单元相连；多个介质滑动组件，所述介质滑动组件与所述分支路相应设置，所述介质滑动组件能够与所述多功分网络板相互滑动，所述介质滑动组件包括第一介质滑动片与第二介质滑动片，所述第一介质滑动片与所述第二介质滑动片相连，所述第一介质滑动片与所述第二介质滑动片分别位于所述多功分网络板的两侧，且所述第一介质滑动片与所述第二介质滑动片分别覆盖在所述多功分网络板上的分支路的两侧，所述介质滑动组件相对于所述多功分网络板滑动时，所述分支路被所述第一介质滑动片与所述第二介质滑动片所覆盖的区域面积大小能相应调整；屏蔽外壳，所述屏蔽外壳设有屏蔽腔，所述多功分网络板与所述介质滑动组件均位于所述屏蔽腔内。

上述的TD-LTE天线合成波束测试装置，工作时，多个分支路分别与多个天线单元相连，将具有独立方向图的多个天线单元馈入的多个波束合成一束。当需要调整合成波束的天线方向图为用户所需要的天线方向图时，则可以通过驱动介质滑动组件相对于多功分网络板滑动，以改变第一介质滑动片与第二介质滑动片覆盖分支路的区域面积大小，根据信号在不同介质中传播速率不同的特性，能对支路的输出相位进行调整，从而得到了不同相位比的合成波束权值，能调整合成波束的天线方向图为用户所需要的天线方向图。如此可见，各个支路的输出相位均可以通过驱动与支路对应的介质滑动组件来进行调整，从而大大提升了TD-LTE天线方向图的测试效率。

在其中一个实施例中，所述的TD-LTE天线合成波束测试装置还包括多个传动拉杆，所述传动拉杆与所述介质滑动组件一一对应连接，所述屏蔽外壳设有与所述屏蔽腔连通的多个窗口，所述窗口与所述介质滑动组件相应设置，所述介质滑动组件的一部分通过所述窗口伸出到所述屏蔽腔外，且所述传动拉杆能够带动所述介质滑动组件穿过所述窗口向所述屏蔽腔外部移动。

在其中一个实施例中，所述的TD-LTE天线合成波束测试装置还包括第一紧固件，所述传动拉杆可移动地设置在所述屏蔽外壳上，所述第一紧固件用于在所述传动拉杆移动到预设位置时将所述传动拉杆固定在所述屏蔽外壳上。

在其中一个实施例中，所述的TD-LTE天线合成波束测试装置还包括设置在所述屏蔽外壳外的多个导向套体，所述导向套体与所述传动拉杆一一对应设置，所述传动拉杆可滑动地设置在所述导向套体内部。

在其中一个实施例中，所述导向套体的侧壁沿其轴向方向上并列间隔地设置有多个第一通孔，所述第一紧固件穿过其中一个所述第一通孔将所述传动拉杆固定在所述屏蔽外壳上；所述传动拉杆的外侧壁上设置有相位刻度线。