[发明专利]用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的装置有效

专利信息
申请号: 201811637828.2 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109540339B 公开(公告)日: 2023-09-26
发明(设计)人: 张金强;宣越健;贾盛洁;毕登辉 申请(专利权)人: 中国科学院大气物理研究所;北京中科技达科技有限公司
主分类号: G01K13/024 分类号: G01K13/024;G01J5/00;G01W1/02
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 殷红梅
地址: 100029 北京市朝*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 用于 分析 高空 气球 平台 大气 温度 测量 辐射 影响 装置
【说明书】:

发明涉及一种用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的装置,按照本发明提供的技术方案,所述用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的设备,包括用于收纳数据采集存储处理单元的载荷舱,在所述载荷舱的上表面设置上端影响因素测量单元,在载荷舱的下表面设置下端影响因素测量单元,还包括与载荷舱下表面连接的悬挂温度测量单元,所述上端影响因素测量单元、下端影响因素测量单元以及悬挂温度测量单元均与数据采集存储处理单元电连接;本发明结构紧凑,连续观测时间长,能实现多要素测量,抗干扰能力强,能有效确定高空气球平台大气温度测量受辐射影响的情况,安全可靠。

技术领域

本发明涉及一种高空多气象要素观测设备,尤其是一种用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的装置,具体地说搭载于高空气球平台长时间联合测量平流层区域大气温度和辐射的探测设备,以用来定量分析辐射对于大气温度测量的影响,属于高空大气探测的技术领域。

背景技术

平流层高空大气综合探测技术研发是开展大气科学研究的重要前提和基础,平流层区域特殊的大气物理、化学特性的表征需要先进的科学实验手段作为支撑。但是,平流层区域长期以来缺乏系统高效的气象观测手段,亟需开展相关高空气象观测技术研究。研发平流层大气观测技术将有助于认知高空区域的一些关键大气科学问题。

平流层高空气球平台携带温度传感器观测时会受到辐射影响,造成温度测量偏高的误差。这主要是由于气球平台随气团整体飘动,相对于大气运动弱,热交换不充分,温度传感器表面堆积辐射热量引起。因此,需要研发基于高空气球平台的辐射对大气温度测量影响的定量分析装置。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术中存在的不足,提供一种用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的设备,其结构紧凑,连续观测时间长,能实现多要素测量,抗干扰能力强,能有效确定高空气球平台大气温度测量受辐射影响的情况,安全可靠。

按照本发明提供的技术方案,所述用于分析高空气球平台大气温度测量受辐射影响的设备,包括用于收纳数据采集存储处理单元的载荷舱,在所述载荷舱的上表面设置上端影响因素测量单元,在载荷舱的下表面设置下端影响因素测量单元,还包括与载荷舱下表面连接的悬挂温度测量单元,所述上端影响因素测量单元、下端影响因素测量单元以及悬挂温度测量单元均与数据采集存储处理单元电连接;

所述上端影响因素测量单元包括用于测量短波辐射的上短波辐射表、用于测量长波辐射的上长波辐射表以及用于测量上端表面温度的上温度传感器;所述下端影响因素测量单元包括用于测量短波辐射的下短波辐射表、用于测量长波辐射的下长波辐射表以及用于测量下端表面温度的下温度传感器,所述悬挂温度测量单元包括连接导线以及位于所述连接导线端部的悬挂温度传感器,悬挂温度传感器通过连接导线与数据采集存储处理单元电连接;

所述数据采集存储处理单元能采集并存储上短波辐射表测量的上端表面短波辐射值、上长波辐射表测量的上端表面长波辐射值、上温度传感器测量的上端表面温度值、下短波辐射表测量的下端表面短波辐射值、下长波辐射表测量的下端表面长波辐射值、下温度传感器测量的下端表面温度值以及悬挂温度传感器测量的悬挂温度值,且能根据数据采集存储处理单元所采集并存储的上端表面短波辐射值、上端表面长波辐射值、上端表面温度值、下端表面短波辐射值、下端表面长波辐射值、下端表面温度值以及悬挂温度值能确定辐射对高空气球平台大气温度测量的影响状态。

在所述载荷舱内还设置用于供电的电池,所述电池以及数据采集存储处理单元均通过硬质泡沫包裹后置于载荷舱内,数据采集存储处理单元包括数据采集处理器以及与所述数据采集处理器电连接的数据存储器,所述数据采集处理器与数据存储器之间通过RS232串口连接。

所述上温度传感器、下温度传感器以及悬挂温度传感器均采用珠状温度传感器。

在所述载荷舱的上端表面设置与上温度传感器适配的上轴流风机,通过上轴流风机能抽动空气流动吹过上温度传感器的表面;

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