[发明专利]计算机断层扫描设备的异物检测方法及装置和计算机装置

说明书

本发明公开了一种计算机断层扫描设备的异物检测方法及装置和计算机装置，异物检测方法包括异物检测步骤，异物检测步骤包括：进行扫描，以采集多个采样角度下的第一扫描数据；根据第一扫描数据确定出判断标准值，判断标准值包括相邻采样角度扫描数据的最大差异值、采样角度扫描数据的标准差值及采样角度扫描数据的最大差异值中的一种或几种；比较判断标准值与判断阈值，以获得异物检测结果。本发明通过对扫描得到的数据进行分析来快速准确地发现与机器正常运转的无关物体，扫描方式及计算分析过程较为简单，提升了校正准确性，从而减少了异物带来的不利影响，同时减少了由于异常带来的研发问题的大量投入，进而提升了用户体验度。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，特别涉及一种计算机断层扫描设备的异物检测方法及装置和计算机装置。

背景技术

用于研发测试或者医院扫描的计算机断层扫描设备(即CT设备)，经常会进行软硬件更新，更新软硬件过程和生产设备过程都可能会导致遗留一些物体在机架外壳。

同时在相关的检测中，机器设备与造影剂等化学试剂需要一起使用，这会导致发生更新或与化学试剂使用后机残留在机架外壳光路中，而其使用者在不会或者不能确认的情况下，可能会检测不出病灶，严重时会误诊。

目前，现有技术中机器工作状态的确认方法是做一套完整的自检和图像质量确认(IQ check)。但是，该确认方法需要借助其他的模体，并且检测过程时间很长。因此，一般CT设备只会在需要检测的时候或者出现问题时才会进行此项操作。而且，现有技术中其他的光路异常检测方法，扫描和分析过程复杂，并且没有考虑相关校正不正确等问题，导致用户体验效果不佳。

发明内容

以下给出一个或多个方面的简要概述以提供对这些方面的基本理解。此概述不是所有构想到的方面的详尽综览，并且既非旨在指认出所有方面的关键性或决定性要素亦非试图界定任何或所有方面的范围。其唯一的目的是要以简化形式给出一个或多个方面的一些概念以为稍后给出的更加详细的描述之序。

本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中光路异常检测方法的扫描和分析过程复杂，并且校正准确性低的缺陷，提供一种计算机断层扫描设备的异物检测方法及装置和计算机装置。

本发明是通过下述技术方案来解决所述技术问题：

一种计算机断层扫描设备的异物检测方法，其包括异物检测步骤，所述异物检测步骤包括：

进行扫描，以采集多个采样角度下的第一扫描数据；

根据所述第一扫描数据确定出判断标准值，所述判断标准值包括相邻采样角度扫描数据的最大差异值、采样角度扫描数据的标准差值及采样角度扫描数据的最大差异值中的一种或几种；

比较所述判断标准值与判断阈值，以获得异物检测结果。

可选地，所述异物检测方法还包括所述判断阈值的确定步骤，所述判断阈值的确定步骤包括：

确认所述计算机断层扫描设备的工作状态正常且扫描孔径内无异物后，进行扫描，以采集第二扫描数据；

根据所述第二扫描数据确定出所述判断阈值，所述判断阈值包括相邻采样角度扫描数据的最大差异阈值、采样角度扫描数据的标准差阈值及采样角度扫描数据的最大差异阈值中的一种或几种。

可选地，所述进行扫描，以采集第一扫描数据的步骤包括：

根据预设扫描协议进行坏像素扫描，以采集第一扫描数据；

对所述第一扫描数据进行预处理；

在所述根据所述第一扫描数据确定出判断标准值的步骤中，根据预处理后的所述第一扫描数据确定出判断标准值。

可选地，所述进行扫描，以采集第二扫描数据的步骤包括：