[发明专利]一种信号测试治具和信号测试方法

说明书

本发明公开了一种信号测试治具和信号测试方法。涉及硬件测试技术，解决了缺乏不同类型接口测试治具的问题。该信号测试治具包括PCB电路板及所述PCB电路板上设置的标准插槽；所述信号测试治具上还设置有至少一个不同类型的连接器，每个连接器通过所述PCB电路板连接至所述标准插槽，所述连接器在相应类型的待测试接口和所述标准插槽之间建立连接。本发明的技术方案适用于服务器测试，实现了不同类型待测试接口通用的测试方案。

技术领域

本发明涉及硬件测试技术，尤指一种信号测试治具和信号测试方法。

背景技术

开放计算项目(OCP)接口是用于在服务器上连接外设部件互连标准(PCIe)网卡的接口。这种接口pin脚密度高，因此可以把PCIe接口做到更小，在服务器主板有限的空间上，具有节省空间的优势。

但是正是由于OCP接口Pin脚密度高的特点，要测试OCP接口的PCIe信号的难度就会增加。现有技术中，并没有直接来测试这种OCP接口的测试治具，因此每个应用该接口的服务器厂商都会面临测试该接口PCIe信号的困难。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种信号测试治具和信号测试方法。通过不同连接器将不同类型的待测试接口连接至标准插槽，以输出标准测试信号，实现了对不同类型的接口的测试，解决了缺乏不同类型接口测试治具的问题。

为了达到本发明目的，本发明提供了一种信号测试治具，包括PCB电路板及所述PCB电路板上设置的标准插槽；

所述信号测试治具上还设置有至少一个不同类型的连接器，每个连接器通过所述PCB电路板连接至所述标准插槽，所述连接器在相应类型的待测试接口和所述标准插槽之间建立连接。

优选的，每个连接器连接至所述标准插槽的部分接口。

优选的，所述标准插槽为PCIe插槽。

优选的，所述标准插槽为PCIe x16插槽。

优选的，所述连接器至少包含如下类型：

OCP A型接口，OCP B型接口。

优选的，所述信号测试治具上设置有两个连接器，一个为OCP A型接口连接器，一个为OCP B型接口连接器；

所述OCP A型接口连接器连接至所述PCIe x16插槽的8个接口，所述OCP B型接口连接器连接至所述PCIe x16插槽的另外8个接口。

本发明的另一方面还提供了一种使用上述信号测试治具的信号测试方法，包括：

不同类型的待测试信号接入所述连接器；

所述连接器将所述待测试信号传入所述标准插槽，通过所述标准插槽输出标准测试信号；

对所述标准测试信号进行测试。

优选的，所述待测试信号至少包含如下信息：

电源、时钟、集成电路总线I2C。

本发明提供了一种信号测试治具和信号测试方法，使用包括PCB电路板及所述PCB电路板上设置的标准插槽的信号测试治具，所述信号测试治具上还设置有至少一个不同类型的连接器，每个连接器通过所述PCB电路板连接至所述标准插槽，所述连接器在相应类型的待测试接口和所述标准插槽之间建立连接。不同类型的待测试信号接入所述连接器，再由所述连接器将所述待测试信号传入所述标准插槽，通过所述标准插槽输出标准测试信号，之后对所述标准测试信号进行测试。实现了不同类型待测试接口通用的测试方案，解决了缺乏不同类型接口测试治具的问题。