[发明专利]一种基于自动光学检测自动判等方法

权利要求书

1.一种基于自动光学检测自动判等方法，其特征在于：包括如下步骤：

1)自动光学检测系统对待测面板进行取像、检测，生成检测结果；

2)对所述检测结果进行解析、分类；

3)对所述检测结果进行不检区过滤；

4)对所述检测结果中的缺陷通过单一规则过滤；

5)对所述检测结果中的缺陷进行复合规则过滤，分析缺陷之间的位置关联性；

6)将符合规则的所有缺陷进行归类汇总，生成最终缺陷检测报告，上传至客户存储系统。

2.根据权利要求1所述的基于自动光学检测系统的适应不同面板缺陷自动判等方法，其特征在于：所述步骤2)中对所述检测结果进行解析、分类，所述检测结果中每个缺陷包含以下信息：缺陷类型、缺陷检出画面、缺陷坐标、缺陷面积大小、缺陷长度和宽度、缺陷对比度、缺陷灰度值、缺陷圆形度、缺陷方差、缺陷锐利度。

3.根据权利要求2所述的基于自动光学检测系统的适应不同面板缺陷自动判等方法，其特征在于：所述步骤3)中不检区过滤为对所述检测结果中一个缺陷的缺陷类型、缺陷检出画面、缺陷坐标、缺陷长度和宽度四个条件与设定值相同时，将该缺陷过滤删除。

4.根据权利要求2所述的基于自动光学检测系统的适应不同面板缺陷自动判等方法，其特征在于：所述步骤4)中单一规则过滤为通过对所述检测结果中一个缺陷的单一信息与客户规定的该信息的要求值进行比较，将不符合条件的缺陷删除，将符合条件的缺陷按照客户要求进行命名与编码，所述缺陷的单一信息包括缺陷类型、缺陷检出画面、缺陷坐标、缺陷面积大小、缺陷长度和宽度、缺陷对比度、缺陷灰度值、缺陷圆形度、缺陷方差、缺陷锐利度。

5.根据权利要求2所述的基于自动光学检测系统的适应不同面板缺陷自动判等方法，其特征在于：所述步骤5)中复合规则过滤为通过对所述检测结果中所有缺陷与客户规定的复合规则进行比较，将不符合条件的缺陷删除，将符合条件的缺陷按照客户要求进行命名与编码。

6.根据权利要求2所述的基于自动光学检测系统的适应不同面板缺陷自动判等方法，其特征在于：所述步骤6)中将符合规则的所有缺陷进行归类汇总时，进行缺陷数量卡控过滤、缺陷优先级卡控过滤、缺陷去重卡控过滤、缺陷严重程度比较筛选，最后得到筛选过滤后的缺陷，生成最终缺陷检测报告。