[发明专利]一种基于阵列天线实时检测微波泄漏的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201811592038.7 申请日: 2018-12-25
公开(公告)号: CN109459620B 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: 曾葆青;王双;柴璇;柳建龙;吴喆;甘伟伟;王晗 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 吴姗霖
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 阵列 天线 实时 检测 微波 泄漏 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种基于阵列天线实时检测微波泄漏的方法,其特征在于,具体包括以下步骤:

步骤1:固定阵列天线,连接检测单元、数据转换单元、数据处理单元、显示单元、报警单元和开关装置;

步骤2:建立数据库:

步骤2.1:将微波设备待测区域均分为m*m个区域,天线单元设置于划分的所有奇数行中的每块区域,数量为((m+1)/2)*m,对天线从左到右,从上到下依次编号为A1、A2、A3…A((m+1)/2)*m,控制泄漏位置位于第一块区域A1,控制漏能大小为0.5mW/cm^2,使用天线接收到的数据分别减去其对应的((m+1)/2)*m路电压的初始值,得到U1,U2,…,U((m+1)/2)m,其中,初始值为未开启微波设备时天线的电压值;

步骤2.2:控制漏能泄漏时间,每次泄漏t秒,每1秒记录一次漏能泄漏时天线接收的数据,其中,t为10~60秒;

步骤2.3:以x mW/cm^2为步长,在漏能大小为(0.5~20)mW/cm^2的范围内,依次增加漏能大小,重复步骤2.1和步骤2.2,得到不同漏能大小下的天线单元测量的电压值,其中步长x为0.5~1;

步骤2.4:在其他区域A2、…、Am、…、A((m+1)/2)*m,重复步骤2.1~2.3,记录不同泄漏位置在不同漏能大小下的天线测量电压数据,建立数据库;

步骤3:使用数据库中的数据训练多分类模型用于判断微波泄漏位置;

步骤4:数据处理并拟合计算公式:对数据库中同一漏能大小下泄露t秒的天线检测电压取平均值,在(0.5~20)mW/cm^2的漏能范围内,使用漏能P和电压平均值进行分区拟合:

(1)当泄漏位置为设置有天线的区域Ai时,通过任一天线单元的漏能P和对应的电压平均值进行拟合,得到计算公式1为P=f(Uq);

(2)当泄漏位置为未设置有天线的区域An时,通过任一未设置天线区域的上下两个设置有天线的区域中的天线单元的漏能P和对应的电压平均值之和进行拟合,得到计算公式2为P=h(sum(UL));

其中,P为漏能大小,单位mw/cm^2,q表示泄漏区域天线的标号,L表示泄漏位置上下两根天线的标号,sum表示求和,i和n表示划分区域的编号;

步骤5:实时检测:如果发生微波泄漏,天线单元检测的电压数据输入多分类模型进行位置判断,然后输出泄漏位置,根据泄漏位置选择相应拟合公式进行漏能大小的计算并通过显示单元进行显示。

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