[发明专利]BOSA校准方法、测试终端及可读存储介质

说明书

本发明公开了一种BOSA校准方法，包括：按照无源光纤网络PON产品的批次号，建立每个批次号对应的光发射接收组件BOSA发光参数预测模型；获取待测PON产品的批次号，并根据待测PON产品的批次号，获取对应的BOSA发光参数预测模型；根据获取的BOSA发光参数预测模型中寄存器值和对应的发光参数预测值，对所述待测PON产品的BOSA发光参数进行校准。本发明还提供了一种测试终端及计算机可读存储介质。本发明解决了现有技术采用遍历法存在测试效率低的问题。

技术领域

本发明涉及光通信领域，尤其涉及BOSA校准方法、测试终端及计算机可读存储介质。

背景技术

PON(Passive Optical Network，无源光纤网络)产品生产流程中，为了保证产品品质，每一个产品的BOSA(Bi-Directional Optical Sub-Assembly，光发射接收组件)经过测试确认后才能下线出厂。BOSA校准测试在整个PON 产品生产流程中耗时占比最大，而且BOSA校准需要用到示波器、功率计、衰减器和误码仪等高价值测试仪器，BOSA校准耗时越长，对测试仪器的占用也越长，生产成本也随之提高。

目前现有的技术采用遍历法，即获取BOSA中影响校准参数的所有寄存器值，从寄存器的最小值依次调整到最大值，每调整一次寄存器值，都需要配合测试仪器测量待测PON产品的BOSA的校准参数值，直到将校准的参数值调整到目标范围，但采用这种方法测试时间较长，测试效率低，对测试仪器的占用时间长。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种BOSA校准方法、测试终端及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术采用遍历法存在测试效率低的技术问题。

为实现上述目的，本申请提供一种BOSA校准方法，包括步骤：

按照无源光纤网络PON产品的批次号，建立每个批次号对应的光发射接收组件BOSA发光参数预测模型；

获取待测PON产品的批次号，并根据待测PON产品的批次号，获取对应的BOSA发光参数预测模型；

根据获取的BOSA发光参数预测模型中寄存器值和对应的发光参数预测值，对所述待测PON产品的BOSA发光参数进行校准。

可选地，所述按照无源光纤网络PON产品的批次号，建立每个批次号对应的光发射接收组件BOSA发光参数预测模型的步骤包括：

获取PON样件的批次号，并获取所述PON样件中BOSA的各寄存器值和各寄存器值对应的发光参数值；

选择处于预设范围内的发光参数值，并选择处于预设范围内的发光参数值对应的寄存器值；

根据处于预设范围内的发光参数值和处于预设范围内发光参数值对应的寄存器值，拟合出寄存器值和发光参数值的关系函数，并将该函数作为所述批次号对应的BOSA发光参数预测模型。

可选地，所述获取所述PON样件中BOSA的各寄存器值和各寄存器值对应的发光参数值的步骤包括：

获取所述PON样件中BOSA的各寄存器值；

根据各寄存器值，测量各寄存器值对应的发光参数值。

可选地，所述按照无源光纤网络PON产品的批次号，建立每个批次号对应的光发射接收组件BOSA发光参数预测模型步骤之后还包括：

将每个批次号对应的BOSA发光参数预测模型发送至服务器，以使服务器根据批次号存储对应的BOSA发光参数预测模型；

根据待测PON产品的批次号，获取对应的BOSA发光参数预测模型的步骤包括：