[发明专利]用于校验数据的方法和装置

说明书

本申请实施例公开了用于校验数据的。该方法的一具体实施方式包括：获取待校验的第一数据集和第二数据集，第一数据集中的数据和第二数据集中的数据一一对应；根据第一数据集和第二数据集，生成第一字符串集和第二字符串集，其中，第一字符串集中的字符串包含第一数据集中的数据，第二字符串集中的字符串包含第二数据集中的数据，且第一字符串集中的字符串与第二字符串集中的对应的字符串包含的数据一一对应且排列顺序一致；基于第一字符串集和第二字符串集，确定第一数据集和第二数据集是否相同，输出用于表示第一数据集和第二数据集是否相同的校验结果信息。该实施方式实现了对两个数据集的校验。

技术领域

本申请实施例涉及计算机技术领域，具体涉及用于校验数据的方法和装置。

背景技术

随着互联网技术的快速发展，每刻都会产生大量的数据，也会涉及大量数据的传输、存储等。而在数据的产生、传输和存储等过程中，会有各种各样的影响，有的影响会导致数据出现差错。因此，数据校验是常见的一种用于保证数据的完整性、一致性等的方法。

在很多情况下，同一份数据会对应有多份存储。例如，服务端的一接口返回的数据集会同时同步到多个客户端。又例如，对于同一数据集，有时需要按照不同的存储方式、或使用不同的数据存储工具等分别进行存储。这些情况下，都会出现在不同位置存储有同一数据集。此时，如何校验这些不同位置处存储的数据集中的数据是否相同是需要考虑的一个问题。

目前，常用的可以用于校验不同存储位置的多个数据集的一致性的校验方法包括直接校验和校验和。其中，直接校验就是将多个数据集直接进行一一比较。校验和是利用消息摘要算法等算法对多个数据集分别进行处理，并通过判断多个数据集分别对应的散列值是否相同来校验多个数据集的一致性。

发明内容

本申请实施例提出了用于校验数据的方法和装置。

第一方面，本申请实施例提供了一种用于校验数据的方法，该方法包括：获取待校验的第一数据集和第二数据集，其中，第一数据集中的数据和第二数据集中的数据一一对应；根据第一数据集和第二数据集，生成第一字符串集和第二字符串集，其中，第一字符串集中的字符串包含第一数据集中的数据，第二字符串集中的字符串包含第二数据集中的数据，且第一字符串集中的字符串与第二字符串集中的字符串一一对应，且对应的两个字符串包含的数据一一对应且排列顺序一致；基于第一字符串集和第二字符串集，确定第一数据集和第二数据集是否相同，以及输出用于表示第一数据集和第二数据集是否相同的校验结果信息。

第二方面，本申请实施例提供了一种用于校验数据的装置，该装置包括：获取单元，被配置成获取待校验的第一数据集和第二数据集，其中，第一数据集中的数据和第二数据集中的数据一一对应；生成单元，被配置成根据第一数据集和第二数据集，生成第一字符串集和第二字符串集，其中，第一字符串集中的字符串包含第一数据集中的数据，第二字符串集中的字符串包含第二数据集中的数据，且第一字符串集中的字符串与第二字符串集中的字符串一一对应，且对应的两个字符串包含的数据一一对应且排列顺序一致；确定单元，被配置成基于第一字符串集和第二字符串集，确定第一数据集和第二数据集是否相同，以及输出用于表示第一数据集和第二数据集是否相同的校验结果信息。

第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，该电子设备包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序；当一个或多个程序被一个或多个处理器执行，使得一个或多个处理器实现如第一方面中任一实现方式描述的方法。

第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如第一方面中任一实现方式描述的方法。