[发明专利]一种白平衡调整方法、装置及电子设备

说明书

本发明实施例公开了一种白平衡调整方法、装置及电子设备。本发明实施例中方法包括：利用样本灰阶数据分别计算R、G、B的灰阶参数与W的灰阶参数的比例系数；获取待调试显示装置中各W的灰阶参数；根据待调试显示装置中各W的灰阶参数，以及R、G、B的灰阶参数与W的灰阶参数的比例系数，计算待调试显示装置中各R、G、B的灰阶参数；将待调试显示装置中原始的各R、G、B的灰阶参数，调整为计算得到的待调试显示装置中各R、G、B的灰阶参数。本发明实施例在对待调试显示装置进行白平衡调整时，只需要获取待调试显示装置中各W的灰阶参数，根据W的灰阶参数退到计算R、G、B的灰阶参数，缩短了测量调试时间，提高了测量调试效率。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种白平衡调整方法、装置及电子设备。

背景技术

现有的显示装置，如液晶显示装置、等离子显示装置和背投显示装置等，由于显示装置的显示原理或者显示装置的硬件设计误差，所显示出来的白场色坐标都存在不同程度的误差。对于显示装置的白场色坐标误差，如果不进行相应的白平衡校正，则不同显示装置之间显示的色彩效果具有较大的区别。因此在显示装置生产过程中通常必须进行白平衡校正，以使每台显示装置的显示的颜色趋于一致。

传统的白场调整方式需量测显示装置的红、绿、蓝、白四色的亮度与色坐标，再利用算法计算调整的幅度。例如在薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-LiquidCrystal Display，TFT-LCD)生产过程中，业内是通过white tracking的方式，来调整产品白画面的Local GM和全灰阶的色坐标x、y，但只能进行一片样品的调整，然后烧入到所有样品中。目前想要实现一片white tracking调整，通常需要花费≥15min的时间，通过多探头同时测量RGBW的数据，无疑会缩短4倍的时间，但是成本上提升很多，而且W复测检查的时间不会缩短。如果想要在产线上进行white tracking调整，每一片样品的调整时间需要压缩在1min～2min之内，否则是无法接受的。另外，成本是一个重要的考量因素。目前所知的技术，恰恰无法满足以上两点。

发明内容

本发明实施例提供一种白平衡调整方法、装置及电子设备，缩短了测量调试时间，提高了测量调试效率。

为解决上述问题，第一方面，本申请提供一种白平衡调整方法，该方法包括：

利用预先获取的样本灰阶数据分别计算R、G、B的灰阶参数与W的灰阶参数的比例系数；

获取待调试显示装置中各W的灰阶参数；

根据所述待调试显示装置中各W的灰阶参数，以及R、G、B的灰阶参数与W的灰阶参数的比例系数，计算所述待调试显示装置中各R、G、B的灰阶参数；

将所述待调试显示装置中原始的各R、G、B的灰阶参数，调整为计算得到的所述待调试显示装置中各R、G、B的灰阶参数。

进一步的，所述利用预先获取的样本灰阶数据计算R、G、B的灰阶参数项与W的灰阶参数项的比例系数的步骤，包括：

获取样本显示装置中第一预设数量的R、G、B、W的灰阶参数；

分别计算每个R、G、B的灰阶参数与W的灰阶参数的比值；

将计算得到的R、G、B的灰阶参数与W的灰阶参数的比值求平均值得到R、G、B的灰阶参数与W的灰阶参数的比例系数。

进一步的，所述获取待调试显示装置中各W的灰阶参数的步骤，包括：

获取所述待调试显示装置中第二预设数量的W的灰阶参数，所述第二预设数量的W的灰阶参数为在低于第一灰阶的范围内按固定间隔获取的；